GTR饱和压降低，载流密度大，但驱动电流较大；（因为Vbe=0.7V,而Ic可以很大（跟PN结材料和厚度有关））MOSFET驱动功率很小，开关速度快，但导通压降大，载流密度小。（因为MOS管有Rds，如果Ids比较大，就会导致Vds很大）IGBT综合了以上两种器件的优点，驱动功率小而饱和压降低。非常适合应用于直流电压为600V及以上的变流系统如交流电机、变频器、开关电源、照明电路、牵引传动等领域。
所以整个过程就很简单：当栅极G为高电平时，NMOS导通，所以PNP的CE也导通，电流从CE流过。当栅极G为低电平时，NMOS截止，所以PNP的CE截止，没有电流流过 同时也是该产业的供应链。北京节能IGBT模块
另外，通过模块封装方式还可提供众多派生产品，在大、中容量变换器应用中被寄予厚望。日本东芝开发的IEGT利用了“电子注入增 应”，使之兼有IGBT和GTO两者的优点：低饱和压降，宽安全工作区(吸收回路容量 为GTO的1/10左右)，低栅极驱动功率(比GTO低两个数量级)和较高的工作频率。器件采用平板压接式电极引出结构，可靠性高，性能已经达到4.5KV/2100A的水平。采用适当的MOS栅结构，在促进电子注入效应增大时，从沟道注入N层的电子电流也相应增加。如果采用槽形结构，则沟道的迁移率增大。该槽栅越深，促进电子注入的效果越显 。对于一般IGBT，电子电流占总电流比率小于0.75。而对于P-IEGT，由于有促进电子的注入效应，可使这一比率超过0.75。对于T-IGET，其电流比率为0.8以上，性能有较大改进。其结果使IEGT的通态电压呈现较低值，可与普通晶闸管相当。IEGT具有高速导通晶闸管同样微细的MOS栅结构，又有IGBT同样的导通能力，作为脉冲功率用器件受到重视。福田区附近哪里有IGBT模块还有属于自己的供货团队的。
IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)，绝缘栅双极型晶体管，是由BJT(双极型三极管)和MOS(绝缘栅型场效应管)组成的复合全控型电压驱动式功率半导体器件, 兼有MOSFET的高输入阻抗和GTR的低导通压降两方面的优点。GTR饱和压降低，载流密度大，但驱动电流较大;MOSFET驱动功率很小，开关速度快，但导通压降大，载流密度小。IGBT综合了以上两种器件的优点，驱动功率小而饱和压降低。集电极电流增大时，所产生的额定损耗亦变大。同时，开关损耗增大，使原件发热加剧，因此，选用IGBT模块时额定电流应大于负载电流。特别是用作高频开关时，由于开关损耗增大，发热加剧，选用时应该降等使用。
90年代中期，沟槽栅结构又返回到一种新概念的IGBT，它是采用从大规模集成(LSI)工艺借鉴来的硅干法刻蚀技术实现的新刻蚀工艺，但仍然是穿通(PT)型芯片结构。[4]在这种沟槽结构中，实现了在通态电压和关断时间之间折衷的更重要的改进。硅芯片的重直结构也得到了急剧的转变，先是采用非穿通(NPT)结构，继而变化成弱穿通(LPT)结构，这就使安全工作区(SOA)得到同表面栅结构演变类似的改善。这次从穿通(PT)型技术先进到非穿通(NPT)型技术，是 基本的，也是很重大的概念变化。基本都是大型企业和品牌来合作。
功率引出端子等。陶瓷衬板材料有氮化硅（Si3N4）、氮化铝（AlN）、氧化铝（Al2O3）等，其中，Si3N4可靠性更高，AlN的热传性更好。从可靠性来看，活性金属钎焊（AMB）工艺的衬板可靠性明显高于双面键合铜（DBC）。封装工艺复杂，生产周期较长，通过精某准的陶瓷衬板布局设计、模具设计、焊接和键合参数的优化，简化生产流程，才能实现 IGBT 芯片与封装工艺的完美结合、降低产品热阻、提高产品的一致性和产品的使用寿命。抗干扰等要求，将电路密封在绝缘外壳内，并与散热底板绝缘。对 IGBT 模块封装来说，散热和可靠性是关键。典型的 IGBT 模块内部包含数层不同功能的结构材料，包括IGBT芯片、快恢复二极管芯片、陶瓷衬板、键合丝、散热基板、散热器、硅胶、焊料、封装管壳我们的货源也是他们提供的。武江区IGBT模块
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在应用中有时虽然保证了栅极驱动电压没有超过栅极 额定电压，但栅极连线的寄生电感和栅极与集电极间的电容耦合，也会产生使氧化层损坏的振荡电压。为此，通常采用双绞线来传送驱动信号，以减少寄生电感。在栅极连线中串联小电阻也可以抑制振荡电压。此外，在栅极—发射极间开路时，若在集电极与发射极间加上电压，则随着集电极电位的变化，由于集电极有漏电流流过，栅极电位升高，集电极则有电流流过。这时，如果集电极与发射极间存在高电压，则有可能使IGBT发热及至损坏。在使用IGBT的场合，当栅极回路不正常或栅极回路损坏时(栅极处于开路状态)，若在主回路上加上电压，则IGBT就会损坏，为防止此类故障，应在栅极与发射极之间串接一只10KΩ左右的电阻。北京节能IGBT模块
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