因此测试点占有线路板室内空间的难题，常常在设计方案端与生产制造端中间拔河赛，但是这一议案等之后还有机会再说谈。测试点的外型一般是环形，由于探针也是环形，比较好生产制造，也较为非常容易让邻近探针靠得近一点，那样才能够提升针床的植针相对密度。1.应用针床来做电源电路测试会出现一些组织上的先天性上限定，例如：探针的较少直徑有一定極限，很小直徑的针非常容易断裂损坏。2.针间间距也是有一定限定，由于每一根针必须从一个孔出去，并且每根针的后端开发都也要再电焊焊接一条扁平电缆，假如邻近的孔很小，除开针与针中间会出现触碰短路故障的难题，扁平电缆的干预也是一大难题。3.一些高零件的边上没法植针。假如探针间距高零件太近便会有撞击高零件导致损害的风险性，此外由于零件较高，一般也要在测试夹具针床座上打孔绕开，也间接性导致没法植针。电路板上愈来愈难容下的下全部零件的测试点。4.因为木板愈来愈小，测试点多少的存废屡次被拿出来探讨，如今早已拥有一些降低测试点的方式出現，如Nettest、TestJet、BoundaryScan、JTAG.。。等；也是有其他的测试方式要想替代本来的针床测试，如AOI、X-Ray，但现阶段每一个测试好像都还没法。，专业PCB设计，高精密多层PCB板，24小时快速打样！云南双层pcb成交价
传输线的端接通常采用2种策略：使负载阻抗与传输线阻抗匹配，即并行端接；使源阻抗与传输线阻抗匹配，即串行端接。(1)并行端接并行端接主要是在尽量靠近负载端的位置接上拉或下拉阻抗，以实现终端的阻抗匹配，根据不同的应用环境，并行端接又可以分为如图2所示的几种类型。(2)串行端接串行端接是通过在尽量靠近源端的位置串行插入一个电阻到传输线中来实现，串行端接是匹配信号源的阻抗，所插入的串行电阻阻值加上驱动源的输出阻抗应大于等于传输线阻抗。这种策略通过使源端反射系数为零，从而压制从负载反射回来的信号(负载端输入高阻，不吸收能量)再从源端反射回负载端。不同工艺器件的端接技术阻抗匹配与端接技术方案随着互联长度、电路中逻辑器件系列的不同，也会有所不同。只有针对具体情况，使用正确、适当的端接方法才能有效地减少信号反射。一般来说，对于一个CMOS工艺的驱动源，其输出阻抗值较稳定且接近传输线的阻抗值，因此对于CMOS器件使用串行端接技术就会获得较好的效果；而TTL工艺的驱动源在输出逻辑高电平和低电平时其输出阻抗有所不同。这时，使用并行戴维宁端接方案则是一个较好的策略；ECL器件一般都具有很低的输出阻抗。吉林好的pcb售价我们不仅能PCB设计，还能提供电路板打样，加急24小时交货！
合理进行电路建模仿真是较常见的信号完整性解决方法，在高速电路设计中，仿真分析越来越显示出优越性。它给设计者以准确、直观的设计结果，便于及早发现问题，及时修改，从而缩短设计时间，降低设计成本。常用的有3种：SPICE模型，IBIS模型，Verilog-A模型。SPICE是一种功能强大的通用模拟电路仿真器。它由两部分组成：模型方程式(ModelEquation)和模型参数(ModelParameters)。由于提供了模型方程式，因而可以把SPICE模型与仿真器的算法非常紧密地连接起来，可以获得更好的分析效率和分析结果；IBIS模型是专门用于PCB板级和系统级的数字信号完整性分析的模型。它采用I/V和V/T表的形式来描述数字集成电路I/O单元和引脚的特性，IBIS模型的分析精度主要取决于1/V和V/T表的数据点数和数据的精确度，与SPICE模型相比，IBIS模型的计算量很小。
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PCB设计的原件封装：（1）焊盘间距。如果是新的器件，要自己画元件封装，保证间距合适。焊盘间距直接影响到元件的焊接。（2）过孔大小（如果有）。对于插件式器件，过孔大小应该保留足够的余量，一般保留不小于0.2mm比较合适。（3）轮廓丝印。器件的轮廓丝印比较好比实际大小要大一点，保证器件可以顺利安装。PCB设计的布局（1）IC不宜靠近板边。（2）同一模块电路的器件应靠近摆放。比如去耦电容应该靠近IC的电源脚，组成同一个功能电路的器件应优先摆放在同一个区域，层次分明，保证功能的实现。（3）根据实际安装来安排插座位置。插座都是通过引线连接到其他模块的，根据实际结构，为了安装方便，一般采用就近原则安排插座位置，而且一般靠近板边。（4）注意插座方向。插座都是有方向的，方向反了，线材就要重新定做。对于平插的插座，插口方向应朝向板外。（5）KeepOut区域不能有器件。（6）干扰源要远离敏感电路。高速信号、高速时钟或者大电流开关信号都属于干扰源，应远离敏感电路（如复位电路、模拟电路）。可以用铺地来隔开它们。云南双层pcb成交价
