AE1/RD1发射率测量仪是D&S公司生产，专门针对测量物体的发射率而设计的。AE1/RD1辐射率仪测量材料的总半球发射率，测量仪*对辐射热传输响应，并且输出电压和发射率成线性关系。D&S的标度数字电压表RD1是AE1辐射率仪读数器，RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致，当AE1测量待测样品上时，RD1就能直接读出发射率。把该仪器放在高发射率标准体（黑体）上，设定RD1来表示发射率标准参数；然后仪器就会根据这个标准，计算并直接读出RD1上该被测目标的发射率。AE1/RD1辐射率仪测量材料的总半球发射率，测量仪*对辐射热传输响应。DS发射率测量仪技术参数
发射率测量仪适配器—型号AE-AD1（用于AE1型发射率计）。使用AE1和AE-AD1适配器的发射率测量仪可以实现在直径为1.5英寸（3.8厘米）的平坦区域小目标测量。典型的应用是在太阳能吸收板上的管子进行测量，或者测量小鱼直径2.25英寸（5.7cm）的区域。适配器可以有效阻隔高度为.375英寸（.95厘米）的垂直障碍物影响。适配器通过两根尼龙螺丝固定在适当位置。从安装在发射点周围的项圈上，适配器可以向下延伸到1.5英寸直径的管子，在这一端是测量端口。管的内部被高反射和镜面材料覆盖。该反射材料引导检测器和样品之间的热辐射交换，使得仪器被校准以读取样品的发射率。热表面材料发射率测量仪方案发射率通过把辐射计放在待测样品上并直接读出RD1上的发射率。
发射率测量仪可用于航天热控涂层所谓的热控涂层简单的说就是两个字—保温，让升上天的那些航空元器件不至于暴露在**温环境下损坏。发射率测量仪这时候就很重要。测量这种航天热控涂层，需要测量涂层的法向发射率、半球发射率、太阳光反射率，以计算涂层的热辐射性能（就是一束太阳光照过来，我吸收了多少能量，散掉了多少能量，保留了多少能量，这样就能计算出在不同光照下，涂层大概会维持在什么温度范围，这个就是对航空器件的控温要求的一种保证）。像这种应用的话TESA2000发射率测量仪是很合适的。发射率测量仪可应用于节能建筑、LEED认证等研究都是有用到的。
把探头放在低发射率标定块上（下图）然后等60~90s直至RD1上的读数稳定。然后用我们提供给您的小螺丝到调节探头上的微调螺丝，使RD1表头上显示的数值直至我们提供给您的低发射率标定块数值相同，我们的标定块的具体发射率数值有写在它的反面同时在其校准证书中也有。请谨记需要重复循环调节高发射率标准块(步骤3)和低发射率标准(步骤4)。重复补偿两个调试过程,直到重复两个标定过程都不需要改变显示数值时，我们才能说RD1和Emissometer现在测出来的发射率和表头显示的数值才是**准确的。原理: 加热探测器内的热电堆，使探测器和试板之间产生温差。
产品名称:D&S半球发射率测量仪产品类别:发射率测量仪产品简介:D&S的标度数字电压表RD1是AE1辐射率仪读数器，RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致，当AE1测量待测样品上时，RD1就能直接读出发射率。D&S半球发射率测量仪主要优势：重复性:±0.01操作简单:探测器采用电加热设计，无须加热样品，也不需要测量温度快速测量：预热约30分钟，每1.5分钟测量一次发射率价格实惠:相较于一些用比较法测量发射率的仪器便宜很多。GB/T 31389-2015 建筑外墙及屋面用热反射材料技术条件及评价方法(半球发射率的测定-辐射计法)。太阳光反射率发射率测量仪参数
把辐射计放在待测样品上并直接读出RDl上的发射率。DS发射率测量仪技术参数
符合《ASTMC1371》、《JG_T235-2014建筑反射隔热涂料》、《GBT25261-2010建筑用反射隔热涂料》等国家标准，是建筑涂料行业，新能源材料研究，航空航天材料研发检测的必须品。重复性高，重复精度达到±；易于操作：仪器的检测器部分已电加热，因此不必额外加热样品，也无需温度测量。根据高发射率标准体提前设定发射率标准参数，测量仪*对辐射热传输响应并输出电压，和发射率成线性关系，通过可调旋钮设定发射率读数与标准体的发射率一致，通过校准后，当测量被测样品时，检测仪便可直接读出发射率。快速测量：在大约30分钟的初始预热器。期后，可以每隔半分钟读取一次发射率读数，使得测量结果变得实时可观。高性价比：该仪器简便小巧，性价比高，比同期其他方法的测量设备成本更低，维护更简单。 DS发射率测量仪技术参数
上海明策电子科技有限公司主要经营范围是仪器仪表，拥有一支专业技术团队和良好的市场口碑。公司业务涵盖黑体校准源，红外测温仪，高速摄像机，发射率测量仪等，价格合理，品质有保证。公司秉持诚信为本的经营理念，在仪器仪表深耕多年，以技术为先导，以自主产品为重点，发挥人才优势，打造仪器仪表良好品牌。明策科技凭借创新的产品、专业的服务、众多的成功案例积累起来的声誉和口碑，让企业发展再上新高。
