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近红外分析仪基本参数
  • 品牌
  • 赛默飞世尔
  • 型号
  • 齐全
  • 类型
  • 红外紫外拉曼光谱仪
近红外分析仪企业商机

防爆环境下的在线检测:

Antaris EX Process Analyzer


应用于工业防爆环境下的仪器、仪表应满足现场防爆等级要求;Antaris EX 过程分析仪专为此类应用度身定制。

Antaris EX 为危险环境下的过程检测提供一整套完整解决方案,能够适应任何类型的在线监控:

• 危险环境下的过程监控

• 自动、实时数据采集

• 各种类型的光纤探头和检测工具

• 集成的 I/O 通讯Antaris EX 可配置用以满足不同防爆等级要求:

• 根据防爆等级进行配置

• 涡流冷却或热电冷却

• 316 不锈钢结构,抗腐蚀外壳


节省分析成本、提**析效率。广东赛默飞世尔近红外分析仪供应商

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硬件技术特点


共同的光学平台

Antaris II,Antaris MX 与 Antaris EX 采用共同的**光学平台,以此保证轻而易举地进行分析模型的移植和共享。

电磁式干涉仪(美国专利),DSP控制,13 万次 / 秒高速动态准直

• 高重现性和稳定性的保障

• 避免立体角镜干涉仪存在的“光谱失真”现象

• CaF2 分束器,在近红外区域具有更高的能量分布

• 具有自动准直功能,无需人工调整

高亮度、长寿命卤钨灯 NIR 光源

• 工厂预准直

• 精密对针定位,用户自行从外部更换, 无须光路校正


浙江赛默飞世尔近红外分析仪供应商为规避质量隐患、提高生产效率、降低成本提供保证。

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Antaris II是***一代专业傅立叶变换近红外光谱系统,该仪器具备实验室研究级近红外仪器所要求的比较高性能,能够适应工业操作环境。该仪器和技术的成功应用将为企业成倍提高工作效率、节省大量日常常规样品检测成本。

赛默飞世尔科技的Antaris™ II FT-NIR分析仪,便于实验室开发出适用于工厂生产的分析方案和方法。Antaris II FT-NIR分析仪凭借着业内**的模型转移性能,保证了旁线(at-line),在线(online),线内(in-line)的数据采集更佳稳定,可靠。您可以对 Antaris II FT-NIR 分析仪进行自定义用于特殊应用,也可以选择 Antaris II MDS 方法建立采样系统,它将传输、光纤和球面漫反射分析整合在一个转钥系统内。

AntarisTM 系列傅里叶近红外分析仪***的近红外技术


• 完全工业化的分析系统,整体铸铝设计,密封干燥、抗振性能前列,轻松自如地适应实验室或工业现场环境下的样品分析任务;

• 所有模块均采用高灵敏度 InGaA 检测器,自动采集内置背景;

• 积分球对漫反射光的收集效率高于 95%,保证比较高的检测灵敏度;

• 液体透射,具备两个样品光路和一个内部背景光路,计算机控制自动切换;

• 同时对药片或胶囊进行透射和漫反射分析, 一次得到样品表面材料(如包衣)和内部组成信息;

• 光纤探头在线检测时无需手动采集背景,避免取离光纤探头去采集背景而干扰检测过程;

• USB 即插即用接口,避免网卡通讯可能存在的物理地址和 IP 地址***。


高分辨率-分辨率由动镜移动距离决定,不会有光能量和系统灵敏度的损失。

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关于 Antaris 产品线及系列仪器


工业环境下的样品分析和质量控制需要不同于实验室的检测工具和手段。Thermo Scientific 分子光谱部凭借其在光谱分析领域几十年的经验,深刻体会到不同领域**和常规用户的不同需求——需要建立一套满足不同分析任务的工业级分析仪器的新标准。为此,ThermoScientific 以**的技术为基础,采用相同的软件、性能认证体系、设计和制造标准及技术支持计划作为共同平台,建立起 Antaris 产品线。Antaris 产品线**工业分析仪器的新标准,已成为新型工业分析仪的典范。


符合美国药典(USP)和 FDA 要求的 自动认证程序。赛默飞世尔Antaris II 傅立叶近红外分析仪厂家报价

可以在许多场合替代湿化学方法和色谱技术 等传统分析手段。广东赛默飞世尔近红外分析仪供应商

在线检测:

AntarisMX On-Line 和Antaris Target

在线检测能够实时反映单元操作过程中物料、产物或整体状态的变化趋势,为工艺参数的调整和优化、消除产品质量隐患提供及时的反馈信息;在线检测是实现生产过程自动控制的基础,对于提高产品合格率、改善生产效率具有重要意义。

Antaris Target 通过专门的接口直接安装于混料罐用于在线监控混合过程物料均匀性。

RESULT 软件在线检测:本地监控趋势图界面(Antaris Target 混合均匀性动态检测)。

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近红外分析仪是一种用于工程与技术科学基础学科领域的物理性能测试仪器,于2010年12月15日启用。
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