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近红外分析仪基本参数
  • 品牌
  • 赛默飞世尔
  • 型号
  • 齐全
  • 类型
  • 红外紫外拉曼光谱仪
近红外分析仪企业商机

建立在同一平台上的 Antaris 傅里叶近红外分析仪:

杰出的模型转移能力:通过精密的制造工艺保证系统间硬件性能指标高度重复,**小化系统误差;RESULT 软件的结构化设计程序保证模型和方法(SOP)转移方便、准确和可靠;

快速、准确的分析结果:Antaris 近红外分析仪的应用使您能够快速地得到原料、单元加工过程、中间体、产品的质量反馈信息,为规避质量隐患、提高生产效率、降低成本提供保证;


可靠、稳定的过程分析系统:工业环境下的过程分析对仪器提出了不同于实验室环境的要求;Antaris 系列仪器专为工业环境下特定分析任务而设计,以出色的重现性、可靠性和环境适应能力满足工业过程分析的要求;强大的软件功能和灵活的过程通讯技术确保其方便地与各种制造过程控制和管理系统兼容;

完善的资格认证体系:符合美国药典(USP)和 FDA 要求的自动认证程序,完整的认证文档(包括 DQ, IQ, OQ, PQ), ***满足 FDA 21 CFR Part 11 规范要求。


符合美国药典(USP)和 FDA 要求的 自动认证程序。安徽近红外分析仪厂家供应

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防爆环境下的在线检测:

Antaris EX Process Analyzer


应用于工业防爆环境下的仪器、仪表应满足现场防爆等级要求;Antaris EX 过程分析仪专为此类应用度身定制。

Antaris EX 为危险环境下的过程检测提供一整套完整解决方案,能够适应任何类型的在线监控:

• 危险环境下的过程监控

• 自动、实时数据采集

• 各种类型的光纤探头和检测工具

• 集成的 I/O 通讯Antaris EX 可配置用以满足不同防爆等级要求:

• 根据防爆等级进行配置

• 涡流冷却或热电冷却

• 316 不锈钢结构,抗腐蚀外壳


进口近红外分析仪厂家直销通过精密的制造工艺保证系统间硬件性能指标高度重复,**小化系统误差。

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AntarisTM 系列傅里叶近红外分析仪

为工业生产提供从实验室、工业现场到生产过程的***质量控制方案现代化工业生产越来越强调对生产过程的每一环节进行有效质量控制;Antaris 系列傅里叶近红外分析仪旨在为此提供完全解决方案。为特定应用任务而设计的各型号 Antaris 仪器采用相同的软件平台、资格认证协议、设计和制造标准及技术支持计划,以比较低的使用成本、培训成本、认证成本和系统维护成本,为企业带来比较高的投资回报率。是您的优先选择!



硬件技术特点:

共同的光学平台

Antaris II,Antaris MX 与 Antaris EX 采用共同的**光学平台,以此保证轻而易举地进行分析模型的移植和共享。


金刚石切削整体合金反射镜

• 传输效率更高于一般金属镀层技术的反射镜;

• 精密对针定位,无须手工调整;

• 热稳定性极高;

• 定位锁定,***抗震动。

**的电子控制和通讯技术

• 同 时 4 个高速 24 位AD 转换器;

• 与计算机间采用高速USB 接口,即插即用,避免网卡连接需要设定物理地址和 I P 地址及可能的网络***。


结果的重现性与配置、维护、用户或环境等因素无关。

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ValProTM 系统资格认证体系

ValPro 系统资格认证体系包括完善的文档、标准测试方法、可溯源的标准物质和通过鉴定的验证服务,使得系统轻松满足为认证目的而必备的文档、资料和认证报告,同时也使得日常性能验证过程便利、规范。


• 可提供外部 NIST 可溯源的、校准的和带序列号的反射标准材料用于波长精确度和光度线性的测试;用户可根据自己特定的应用要求,进行自定义性能测试(PQ)

• 符合 21CFR Part 11 规范的工具包(电子签名、审计**、密码安全)


仓库、生产现场等工业环境样品现场分析。上海进口赛默飞世尔Antaris II 傅立叶近红外分析仪厂家直销

Antaris 系列仪器专为工业 环境下特定分析任务而设计。安徽近红外分析仪厂家供应

Antaris MX On-Line 在线分析系统

• 多通道多个检测器,同时监控生产流程的多个控制点;

• 采用 ParaLuxTM NIR Illumination 系统,多通道完全同步检测;通道间无机械切换,避免使用移动部件带来的时间延迟和机械误差;

• 自动内置背景采集,无需占用外部光纤通道,也无须将光纤探头取离检测点去采集背景;

• 在任何样品采集条件下,背景光谱和样品均能同时采集,比较大限度的提高检测结果的准确性、重现性和稳定性;

• 系统能够自动执行性能资格认证(按美国药典 USP<1119> 标准),无需占用外部光纤通道;

• 通过 OPC、4-20mA 和 / 或数字 I/O 与过程控制系统进行通讯。


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近红外分析仪是一种用于工程与技术科学基础学科领域的物理性能测试仪器,于2010年12月15日启用。
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