高温场视觉测温模型的建立是基于CCD传感器对铸坯表面温度场进行在线测量的前提。在分析辐射测温及CCD探测器基本工作原理的基础上，基于几何光学理论建立了窄带光谱辐射测温模型，为CCD辐射测温提供了理论依据。并结合连铸坯表面温度场分布特点，从温度测量范围、测量准确性以及发射率消除等因素上确定了灰度CCD进行连铸坯表面温度场测量方案。基于面阵CCD辐射测温模型，分析了测温灵敏度、温度测量范围与窄带滤光片中心波长、像方孔径角之间的关系。分析结果表明，灵敏度与像方孔径角成正相关，随窄带光谱中心波长先增大后减小；而温度测量范围与像方孔径角成负相关，随窄带光谱中心波长先减小后增大。同时考虑到波长对水雾的吸收特性以及本文选择的探测器响应波段等因素，**终选择的窄带滤光片中心波长为μm，带宽为10nm。基于几何成像的基本原理，建立了辐射测温变参数模型，在黑体炉上进行了标定试验研究，分析了曝光时间、光圈、焦距以及标定距离等参数对CCD灰度测量的影响。 加上需要购置黑体炉、恒温房等测试校准设备，一番折腾下来，十个人有九个会放弃。高温黑体炉附件
紫外线光源有效辐射，灯管长度600mm，UV紫外线杀菌灯管16支*20W紫外线灯居内腔纵向，上、下、左、右安装，波长253.7nm,1米距离射强度为160微瓦/平方厘米以上。使用寿命为8000小时以上。
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一点法的缺点同时也是其优点。由于是*针对目标响应值相对大小关系的校正，这就使得一点校正法可以在目标响应值与校正测量值相近时的任何情况下都能较好地成像。例如，一种很常见的实现方式是在环境温度、FPA温度变化后，通过实时动态调节积分时间、全局偏置等参数，让目标响应值回到与校正测量时相近的范围内，则成像一般不成问题，但这样处理后将导致测温算法复杂化甚至根本无法实现测温功能。
各厂家在一点校正法的工艺实现中，还有个普遍的谬误：用高、低温黑体炉作校正测量，但在应用中却是用的档片机构(有内档片和外档片两种形式)，此时档片起到的是参考黑体的作用。如果用外档片则还与校正测量的情况比较接近，但内档片差得就很离谱了。
黑体开始发展的是高温黑体，早在20世纪50年代，由于光学高温计的应用，当时的苏联和英国已经研制出了黑体炉，最高工作温度可以达到2500℃。20世纪60年代，日本生产出卧式黑体炉，最高工作温度为2200℃;同年代，我国也研制出卧式黑体炉，工作温度为900~3200℃。
在20世纪60年代，中温黑体就有人开始研究，因为当时的技术条件限制，对黑体技术(如黑体腔、等温黑体腔、黑体发射率等)认识不足，甚至将热电偶检定炉的中间放置一个靶子就看作是黑体。
自从美国在越南******使用红外技术，成功地侦察到密林中的胡志明小道后(注:当时胡志明小道是运输线)，拉开了红外技术在***上应用的序幕。随后，各国都开展了红外侦察、红外伪装、红外制导、红外诱饵、空中防卫等技术的研究工作，这就促进了对黑体技术的研究，尤其是对中低温黑体的研究。因此国外在20世纪80年代就已经有低温黑体，我国对低温黑体的研究，是从20世纪90开始。 红外热像仪的校准使用的是黑体炉。
额温枪并不是普通的电子产品，它属于二类医疗器械，生产经营需具备医疗器械资质。然后其**器件——热电堆红外传感器的生产涉及到诸多技术及产业链，额温枪成品的品质检测速度受黑体炉和恒温房所限制，还有主控芯片MCU、运算放大器、外壳等物料动态变化。
这些都是限制额温枪产能快速爬升的关键因素。另外，有业内人士指出，额温枪在实际使用过程中，存在精度容易下降、需人手操作、等待时间长等缺点由于额温枪的实际使用需要人手动操作，也就意味着需要额外增加防控人手，而且人工检测容易出现纰漏，一旦出现缺口，后果不敢想象。 对初筛检不符合的额温计增加了低温黑体炉复核方法。新型黑体炉样品
没有昂贵的黑体炉等**标准检定装置，怎样实现测温仪快速校准验证成为计量部面临的一大难点。高温黑体炉附件
当测温仪工作环境中存在易燃气体时，可选用本征安全型红外测温仪，从而在一定浓度的易燃气体环境中进行安全测量和监视。
在环境条件恶劣复杂的情况下，可以选择测温头和显示器分开的系统，以便于安装和配置。可选择与现行控制设备相匹配的信号输出形式。
8、红外辐射测温仪的标定
红外测温仪必须经过标定才能使它正确地显示出被测目标的温度。一般的红外测温的校准周期是一年，建议选用腔形，发射率达到0.995的黑体炉，才能准确的校准红外测温仪。如果所用的测温仪在使用中出现测温超差，则需退回厂家或维修中心重新标定
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