显微镜基本参数
  • 产地
  • 德国
  • 品牌
  • 徕卡
  • 型号
  • 齐全
  • 是否定制
显微镜企业商机

    3、本项目不接受联合体投标;4、已登记报名并获取本项目招标文件(以采购代理机构登记为准);5、投标人未被列入“信用中国”网站失信被执行人、重大税收违法案件当事人名单、**采购严重违法失信行为记录名单;不处于中国**采购网“**采购严重违法失信行为信息记录”中的禁止参加**采购活动期间。(以采购代理机构于投标截止日当天资格审查前在上述网站查询结果为准,如相关失信记录已失效,投标人需提供相关证明资料,处罚期限届满的除外)。七、获取招标文件方式参与投标的投标人应当在2019年4月3日起至2019年4月22日期间(上午830至1200,下午1400至1730,法定节假日除外)选择以下任意一种方式购买招标文件。招标文件每套售价人民币200元,售后不退。1、现场购买各投标人应携带营业执照(或事业单位法人证书等证明文件)复印件到广东金扬教育采购中心有限公司购买本项目招标文件。购买方式现金购买详细地址广州市越秀区环市东路461号9楼2、电汇购买将招标文件费用汇入我公司银行账户(需注明采购编号)收款人广东金扬教育采购中心有限公司收款银行广州银行东风支行(行号1)银行帐号8017汇款后应及时以邮件形式将下述资料发至我公司邮箱(1)营业执照。汇集了数码显微镜的强大拓展、视频显微镜的直观显示和便携式显微镜的简洁方便等优点。淄博销售显微镜厂家

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    包括减振与阻尼、扫描结构、导热与热屏、针尖定位扫描电镜的替换等,从根本上解决了系统信噪比、机械和温度稳定性、成像分辨率以及降温等方面的问题。与此同时,他们研发了一套“分时控电路单元”,为多探针SPM系统提供低成本的分时控解决方案,进一步发挥该系统的特色和优势。该研究组博士生马瑞松、副研究员鲍丽宏等人利用彻底改造升级后的四探针系统,对石墨烯晶界电阻率与迁移率等输运特性展开了系统研究,拓展了人们对石墨烯晶界/褶皱处本征电子输运特性的认识,展示了改造完成的四探针扫描隧道显微镜系统在研究缺点等微观结构特性对材料输运性质的影响方面的独特优势【NanoLetters,17(9):5291,2017】。**近,在郇庆研究员的直指导与带领下,N04组的博士研究生吴泽宾、高兆艳等成功研并搭建了多台套新型低温光学SPM联合分子束外延(MBE)系统,具有性能稳定、可扩展性强、样品备能力完善和光学兼容性好的特点,主要技术指标达到国际同类商业化系统的优良水平。由于所采用的诸多**部件均为自主研发,因此系统具有商业化系统所不具备的多项优点:1)模块化设计的扫描探头可以同时兼容STM探针和qPlusAFM传感器,具有刚性高、结构紧凑的特点,在达到极低振动水平的同时。淄博销售显微镜厂家然这些物质也可用染色法来进行观察,但有些则不可用,而必须利用偏光显微镜。

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    透射电子显微镜TEM透射电子显微镜(TransmissionElectronMicroscope,简称TEM),是一种把经加速和聚集的电子束透射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度等相关,因此可以形成明暗不同的影像,影像在放大、聚焦后在成像器件(如荧光屏,胶片以及感光耦合组件)上显示出来的显微镜。1背景知识在光学显微镜下无法看清小于,这些结构称为亚显微结构或超细结构。要想看清这些结构,就必须选择波长更短的光源,以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜,电子束的波长比可见光和紫外光短得多,并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比,也就是说电压越高波长越短。目前TEM分辨力可达。▽电子束与样品之间的相互作用图来源:《CharacterizationTechniquesofNanomaterials》[书]透射的电子束包含有电子强度、相位以及周期性的信息,这些信息将被用于成像。2TEM系统组件TEM系统由以下几部分组成:l电子.:发射电子。由阴极,栅极和阳极组成。阴极管发射的电子通过栅极上的小孔形成射线束,经阳极电压加速后射向聚光镜,起到对电子束加速和加压的作用。

    这就是观察到横向力和对应形貌图像中峰谷移动的原因。同时,所观察到的摩擦力变化是由样品与LFM针尖间内在横向力变化引起的,而不一定是原子尺度粘附-滑移过程造成的。对HOPG在微米尺度上进行研究也观察到摩擦力变化,它们是由于解离过程中结构发生变化引起的。解离的石墨表面虽然原子级平坦,但也存在线形区域,该区域摩擦系数要高近一个数量级。TEM结果显示这些线形区域包括有不同取向和无定形碳的石墨面。另一关于原子尺度表面摩擦力特征研究的重要实例是云母表面。利用LFM系统研究了氮化硅针尖与云母表面间的摩擦行为,考察了摩擦力与应力、针尖几何形状、云母表面晶格取向和湿度等因素之间的对应关系。云母表面微观摩擦系数与扫描方向、扫描速度、样品面积、针尖半径、针尖具体结构以及高于70%的湿度变化无关。然而,针尖大小和结构以及湿度又会影响云母样品表面摩擦力的.值大小。此外,应力较低时,摩擦力与应力之间有非线性关系,这是由于弹性形变引起了接触面积变化。利用LFM对边界润滑效应的研究已有报道。LB膜技术沉积的花生酸镉单层与硅基底相比,摩擦力.下降了1/10,而且很容易观察到膜上的缺点。具有双层膜高度的小岛被整片移走。还发展了其他多种类型的电镜。如扫描电镜、分析电镜、超高压电镜等。

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    1.斥力模式原子力显微镜(AFM)微悬臂是原子力显微镜(AFM)关键组成部分之一,通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。微悬臂顶端有一个尖锐针尖,用来检测样品-针尖间的相互作用力。对于一般的形貌成像,探针尖连续(接触模式)或间断(轻敲模式)与样品接触,并在样品表面上作光栅模式扫描。通过计算机控制针尖与样品位置的相对移动。当有电压作用在压电扫描器电极时,它会产生微量移动。根据压电扫描器的精确移动,就可以进行形貌成像和力测量。原子力显微镜(AFM)设计可以有所不同,扫描器即可以使微悬臂下的样品扫描,也可以使样品上的微悬臂扫描。原子力显微镜(AFM)压电扫描器通常能在(x,y,z)三个方向上移动,由于扫描设计尺寸和所选用压电陶瓷的不同,扫描器比较大扫描范围x、y轴方向可以在500nm~125μm之间变化,垂直z轴一般为几微米。好的扫描器能够在小于1尺度上产生稳定移动。通过在样品表面上扫描原子力显微镜(AFM)微悬臂(或使微悬臂下的样品移动)并且记录微悬臂的形变,可以测量样品表面的起伏高度。将样品的局域起伏高度对应探针尖的水平位置绘图,即可得到样品表面的三维形貌图像。利用轻敲模式技术。(2) 相位环(环状光圈)是根据每种物镜的倍率,而有大小不同,可用转盘器更换。江西正规显微镜高质量的选择

台式显微镜,主要是指传统式的显微镜,是纯光学放大,其放大倍率较高,成像质量较好。淄博销售显微镜厂家

    测量振荡微悬臂的振幅或相位变化,也可以对样品表面进行成像。2.摩擦力显微镜摩擦力显微镜(LFM)是在原子力显微镜(AFM)表面形貌成像基础上发展的新技术之一。材料表面中的不同组分很难在形貌图像中区分开来,而且污染物也有可能覆盖样品的真实表面。LFM恰好可以研究那些形貌上相对较难区分、而又具有相对不同摩擦特性的多组分材料表面。图1摩擦力显微镜扫描及力检测示意图图1示出了LFM扫描及检测的示意图。一般接触模式原子力显微镜(AFM)中,探针在样品表面以X、Y光栅模式扫描(或样品在探针下扫描)。聚焦在微悬臂上的激光反射到光电检测器,由表面形貌引起的微悬臂形变量大小是通过计算激光束在检测器四个象限中的强度差值(A+B)-(C+D)得到的。反馈回路通过调整微悬臂高度来保持样品上作用力恒定,也就是微悬臂形变量恒定,从而得到样品表面上的三维形貌图像。而在横向摩擦力技术中,探针在垂直于其长度方向扫描。检测器根据激光束在四个象限中,(A+C)-(B+D)这个强度差值来检测微悬臂的扭转弯曲程度。而微悬臂的扭转弯曲程度随表面摩擦特性变化而增减(增加摩擦力导致更大的扭转)。激光检测器的四个象限可以实时分别测量并记录形貌和横向力数据。淄博销售显微镜厂家

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