可放在仪器工作台上之v型块（17）上进行测量。如被测量零件较大，不能安放在仪器工作台上，则可放松旋手五、9j光切法显微镜的使用与操作方法（一）光切法显微镜可用测微目镜测出表面平面度平均高度值rz，按国家标准，平面度平均高度值rz与表面粗糙度级别的关系如表2所示。表2平面度平均高度值rz/um相当于原精度等级50-10在测量时，所测量的表面范围不少于五个波峰。为使测量能正确迅速地进行，要求按表1内所列的数据选择物镜。（二）被检工作物的安放和显微镜调焦1．被检工件放在工作台上时，测量表面之加工纹路应与显微镜光轴平面平行，即与狭缝像垂直。并使测量表面平行于工作台平面（准确到1°）；对于圆柱形或锥形工件可放在工作台上之v型块（17）上。2．选择适当的物镜插在滑板上，拆下物镜时应先按下手柄（12），插入所需的物镜后，放松手柄即可。将仪器木箱正门打开，拆除固定仪器的木枕和压块即可将仪器从箱内取出。松开粗动旋手（图2（a）（6））将显微镜升高，把支撑木块（图5（1））卸去，取出附件箱（图5（2））中的物镜、电源（可调变压器）和其它附件并装上仪器后，即可使用。六、9j光切法显微镜的维修和保养光切法显微镜系精密光学仪器。结构为：目镜，镜筒，转换器，物镜，载物台，通光孔，遮光器。南通显微镜公司
显微镜的主要性能包括分辨力、放大率、焦点深度、镜像亮度和视场亮度等。分辨力指能够区分的相近两点间的**小距离，两点间的距离越小，表示显微镜的分辨力越高。显微镜的分辨力可用公式R=λ/(nsinα)表示，其中R为分辨力，λ为光波波长，n为物镜与被检物体之间介质的折射率，α为透镜角孔径，指从位于物镜光轴上标本的一个点发出光线伸长到物镜前透镜的有效直径的两端所形成的夹角的一半（图3-3）。nsinα又称镜口率。放大率也称放大倍数，指**终成像的大小与原物体大小的比值，显微镜的总放大倍数等于目镜和物镜的放大倍数的乘积。焦点深度指当焦点对准物体某一点时，不仅位于该点平面上的各点都可看得清楚，而且在此平面的上下一定厚度内，也能看得清楚，这个清晰部分的厚度就是焦点深度。焦点深度与总放大率和镜口率成反比，因此，高放大率和高镜口率的显微镜其焦点深度浅，不能看到标本的全厚度，必须调节螺旋，仔细地从上到下进行观察。镜像亮度是显微镜的图像亮度的简称，指在显微镜下所观察到的图像的明暗程度。使用时，对镜像亮度的要求，一般是使眼睛既不感到暗淡，又不觉得耀眼。镜像亮度与镜口率平方成正比，与总放大倍数的平方成反比。金华全新显微镜公司他.次描述了许多肉眼所看不见的微小植物和动物。
l聚光镜：将电子束聚集得到平行光源。l样品杆：装载需观察的样品。l物镜：聚焦成像，一次放大。l中间镜：二次放大，并控制成像模式（图像模式或者电子衍射模式）。l投影镜：三次放大。l荧光屏：将电子信号转化为可见光，供操作者观察。D相机：电荷耦合元件，将光学影像转化为数字信号。▽透射电镜基本构造示意图来源：中科院科普文章3原理透射电镜和光学显微镜的各透镜及光路图基本一致，都是光源经过聚光镜会聚之后照到样品，光束透过样品后进入物镜，由物镜会聚成像，之后物镜所成的一次放大像在光镜中再由物镜二次放大后进入观察者的眼睛，而在电镜中则是由中间镜和投影镜再进行两次接力放大后**终在荧光屏上形成投影供观察者观察。电镜物镜成像光路图也和光学凸透镜放大光路图一致。▽电镜和光镜光路图及电镜物镜成像原理来源：中科院科普文章4样品制备由于透射电子显微镜收集透射过样品的电子束的信息，因而样品必须要足够薄，使电子束透过。l试样分类：复型样品，超显微颗粒样品，材料薄膜样品等。l制样设备：真空镀膜仪，超声清洗仪，切片机，磨片机，电解双喷仪，离子薄化仪，超薄切片机等。
一、9j光切法显微镜的用途9j光切法显微镜以光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状；在不破坏表面的条件下，测出截面轮廓的微观平面度和沟槽宽度的实际尺寸；此外，还可测量表面上个别位置的加工痕迹和破损。本仪器适用于测量，但只能对外表面进行测定；如需对内表面进行测定，而又不破坏被测零件时，则可用一块胶体把被测面模印下来，然后测量模印下来的胶体的表面。二、9j光切法显微镜的规格仪器的示值相对误差（分段计）5%-24%摄像装置放大倍数≈6×测量平面度范围≈（）um平面宽度用测微目镜≈（）mm用坐标工作台≈（）mm仪器质量≈23kg仪器外形尺寸（l×b×h）mm180×290×470其余见表1表1测量范围（平面度平均高度值）/um表面粗糙度级别所需物镜总放大倍数物镜组件与工件的距离/mm视场/mm960×∞*510x8-730×∞*260x6-514×∞*120x20-804-37×∞*60x*物镜的光学筒长三、9j光切法显微镜的工作原理仪器是采用光切法测量被测表面的微观平面幅度，其工作原理，狭缝被光源发出的光线照射后，通过物镜发出一束光带以倾斜45°方向照射在被测量的表面。具有齿状的不平表面，被光亮的具有平直边缘的狭缝像的亮带照射后，表面的波峰在s点产生反射。显微镜以显微原理进行分类可分为偏光显微镜、光学显微镜与电子显微镜和数码显微镜。
1.斥力模式原子力显微镜（AFM）微悬臂是原子力显微镜（AFM）关键组成部分之一，通常由一个一般100～500μm长和大约500nm～5μm厚的硅片或氮化硅片制成。微悬臂顶端有一个尖锐针尖，用来检测样品－针尖间的相互作用力。对于一般的形貌成像，探针尖连续（接触模式）或间断（轻敲模式）与样品接触，并在样品表面上作光栅模式扫描。通过计算机控制针尖与样品位置的相对移动。当有电压作用在压电扫描器电极时，它会产生微量移动。根据压电扫描器的精确移动，就可以进行形貌成像和力测量。原子力显微镜（AFM）设计可以有所不同，扫描器即可以使微悬臂下的样品扫描，也可以使样品上的微悬臂扫描。原子力显微镜（AFM）压电扫描器通常能在（x,y,z）三个方向上移动，由于扫描设计尺寸和所选用压电陶瓷的不同，扫描器比较大扫描范围x、y轴方向可以在500nm～125μm之间变化，垂直z轴一般为几微米。好的扫描器能够在小于1尺度上产生稳定移动。通过在样品表面上扫描原子力显微镜（AFM）微悬臂（或使微悬臂下的样品移动）并且记录微悬臂的形变，可以测量样品表面的起伏高度。将样品的局域起伏高度对应探针尖的水平位置绘图，即可得到样品表面的三维形貌图像。利用轻敲模式技术。**早的显微镜是16世纪末期在荷兰制造出来的。金华全新显微镜公司
主要用于放大微小物体成为人的肉眼所能看到的仪器。南通显微镜公司
LFM是检测表面不同组成变化的SFM技术。它可以识别聚合混合物、复合物和其他混合物的不同组分间转变，鉴别表面有机或其他污染物以及研究表面修饰层和其他表面层覆盖程度。它在半导体、高聚物沉积膜、数据贮存器以及对表面污染、化学组成的应用观察研究是非常重要的。LFM之所以能对材料表面的不同组分进行区分和确定，是因为表面性质不同的材料或组分在LFM图像中会给出不同的反差。例如，对碳氢羧酸和部分氟代羧酸的混合LB膜体系，LFM能够有效区分开C-H和C-F相。这些相分离膜上，H-C相、F-C相及硅基底间的相对摩擦性能比是1：4：10。说明碳氢羧酸可以有效提供低摩擦性，而部分氟代羧酸则是很好的抗阻剂。不仅如此，LFM也已经成为研究纳米尺度摩擦学-润滑剂和光滑表面摩擦及研磨性质的重要工具。为研究原子尺度上的摩擦机理，Mate等和Ruan、Bhan对新鲜解离的石墨（HOPG）进行了表征。HOPG原子尺度摩擦力显示出高定向裂解处与对应形貌图像具有相同周期性（图），然而摩擦和形貌图像中的峰值位置彼此之间发生了相对移动（图）。利用原子间势能的傅里叶公式对摩擦力针尖和石墨表面原子间平衡力的计算结果表明，垂直和横向方向的原子间力比较大值并不在同一位置。南通显微镜公司
茂鑫实业（上海）有限公司创建于2014-08-07 00:00:00，注册资金 50-100万元，办公设施齐全，办公环境优越，已***实行网络化办公，**提高了速度和效率。专业的团队大多数员工都有多年工作经验，熟悉行业专业知识技能，致力于发展Leica,Nikon,OGP,Creaform,Pall的品牌。公司坚持以客户为中心、清洁度检测仪、孔隙率检测仪、3D扫描仪、影像测量仪、徕卡显微镜以及各类实验测试仪器，及周边配套设备。经营的品牌主要有：德国徕卡，德国ATM，德国卡尔.史托斯，美国OGP，日本尼康等。市场为导向，重信誉，保质量，想客户之所想，急用户之所急，全力以赴满足客户的一切需要。茂鑫实业（上海）有限公司主营业务涵盖[ "清洁度检测仪", "孔隙率检测仪", "徕卡显微镜", "3D扫描仪" ]，坚持“质量***、质量服务、顾客满意”的质量方针，赢得广大客户的支持和信赖。
