对于PCIe来说,由于长链路时的损耗很大,因此接收端的裕量很小。为了掌握实际工 作环境下芯片内部实际接收到的信号质量,在PCIe3.0时代,有些芯片厂商会用自己内置 的工具来扫描接收到的信号质量,但这个功能不是强制的。到了PCIe4.0标准中,规范把 接收端的信号质量扫描功能作为强制要求,正式名称是Lane Margin(链路裕量)功能。 简单的Lane Margin功能的实现是在芯片内部进行二维的误码率扫描,即通过调整水平方 向的采样点时刻以及垂直方向的信号判决阈值,所有带pcie物理插槽的主板都可以插固态硬盘用么?假如能的话插上可以改成引导系统的盘么?多端口矩阵测试PCI-E测试商家
项目2.12SystemReceiverLinkEqualizationTest:验证主板在压力信号下的接收机性能及误码率,可以和对端进行链路协商并相应调整对端的预加重,针对8Gbps和16Gbps速率。·项目2.13Add-inCardPLLBandwidth:验证插卡的PLL环路带宽,针对时钟和所有支持的数据速率。·项目2.14Add-inCardPCBImpedance(informative):验证插卡上走线的PCB阻抗,不是强制测试。·项目2.15SystemBoardPCBImpedance(informative):验证主板上走线的PCB阻抗,不是强制测试。接下来,我们重点从发射机和接收机的电气性能测试方面,讲解PCIe4.0的物理层测试方法。校准PCI-E测试眼图测试PCI Express物理层接口(PIPE);
随着数据速率的提高,在发送端对信号高频进行补偿还是不够,于是PCIe3.0及 之后的标准中又规定在接收端(RX端)还要对信号做均衡(Equalization),从而对线路的损 耗进行进一步的补偿。均衡电路的实现难度较大,以前主要用在通信设备的背板或长电缆 传输的场合,近些年也逐渐开始在计算机、消费类电子等领域应用,比如USB3.0、SATA 6G、DDR5中也均采用了均衡技术。图4 .4分别是PCIe3 .0和4 .0标准中对CTLE均衡器 的频响特性的要求。可以看到,均衡器的强弱也有很多挡可选,在Link Training阶段TX 和RX端会协商出一个比较好的组合(参考资料: PCI ExpressR Base Specification 4 .0)。
PCIe4.0标准在时钟架构上除了支持传统的共参考时钟(Common Refclk,CC)模式以 外,还可以允许芯片支持参考时钟(Independent Refclk,IR)模式,以提供更多的连接灵 活性。在CC时钟模式下,主板会给插卡提供一个100MHz的参考时钟(Refclk),插卡用这 个时钟作为接收端PLL和CDR电路的参考。这个参考时钟可以在主机打开扩频时钟 (SSC)时控制收发端的时钟偏差,同时由于有一部分数据线相对于参考时钟的抖动可以互 相抵消,所以对于参考时钟的抖动要求可以稍宽松一些如果被测件是标准的PCI-E插槽接口,如何进行PCI-E的协议分析?
PCle5.0接收端CILE均衡器的频率响应PCIe5.0的主板和插卡的测试方法与PCIe4.0也是类似,都需要通过CLB或者CBB的测试夹具把被测信号引出接入示波器进行发送信号质量测试,并通过误码仪的配合进行LinkEQ和接收端容限的测试。但是具体细节和要求上又有所区别,下面将从发送端和接收端测试方面分别进行描述。
PCIe5.0发送端信号质量及LinkEQ测试PCIe5.0的数据速率高达32Gbps,因此信号边沿更陡。对于PCIe5.0芯片的信号测试,协会建议的测试用的示波器带宽要高达50GHz。对于主板和插卡来说,由于测试点是在连接器的金手指处,信号经过PCB传输后边沿会变缓一些,所以信号质量测试规定的示波器带宽为33GHz。但是,在接收端容限测试中,由于需要用示波器对误码仪直接输出的比较快边沿的信号做幅度和预加重校准,所以校准用的示波器带宽还是会用到50GHz。 为什么PCI-E3.0的一致性测试码型和PCI-E2.0不一样?上海PCI-E测试眼图测试
PCI-E转USB或UFS接口的控制芯片和测试板的制作方法;多端口矩阵测试PCI-E测试商家
PCIe4.0的接收端容限测试在PCIel.0和2.0的时代,接收端测试不是必需的,通常只要保证发送端的信号质量基本就能保证系统的正常工作。但是从PCle3.0开始,由于速率更高,所以接收端使用了均衡技术。由于接收端更加复杂而且其均衡的有效性会影响链路传输的可靠性,所以接收端的容限测试变成了必测的项目。所谓接收容限测试,就是要验证接收端对于恶劣信号的容忍能力。这就涉及两个问题,一个是恶劣信号是怎么定义的,另一个是怎么判断被测系统能够容忍这样的恶劣信号。多端口矩阵测试PCI-E测试商家
在之前的PCIe规范中,都是假定PCIe芯片需要外部提供一个参考时钟(RefClk),在这 种芯片的测试中也是需要使用一个低抖动的时钟源给被测件提供参考时钟,并且只需要对 数据线进行测试。而在PCIe4.0的规范中,新增了允许芯片使用内部提供的RefClk(被称 为Embeded RefClk)模式,这种情况下被测芯片有自己内部生成的参考时钟,但参考时钟的 质量不一定非常好,测试时需要把参考时钟也引出,采用类似于主板测试中的Dual-port测 试方法。如果被测芯片使用内嵌参考时钟且参考时钟也无法引出,则意味着被测件工作在 SRIS(Separate Refclk Independent SS...