新型的FOTEMPMK-19“模块化系统为用户的测量项目提供了更大的灵活性，并且适用于需要同时快速读取每一个通道的温度的应用。本系统一共有10个模块，可支持40个通道。每个模块可以很容易地拆除或替换。替代时只需要将旧模块拔下，插上新模块即可。每个模块可支持1-4通道，支持多种模拟输出，多种显示方式。FOTEMPMK-19"可以通过某些串口连接电脑。在电脑上利用"FOTEMPAssistant"软件我们可以控制全部的模块。
FOTEMPMK-19“Modu-lar系统尤其适用于恶劣工业需求，本产品无需高成本的维护，各组件非常耐用，且系统能够完全适应恶劣的环境条件，比如强烈的冲击和振动、湿度，压力，温度多变等。所有的光纤测温仪系统组件我们都能够保证长时间的使用寿命，
应用领域•EMI电磁干扰,RFI射频干扰，微波干扰等环境；•高电压环境；•恶劣和危险环境；•核辐射环境；•太空环境；•过程控制；•医学研究(MRT)。 IMPAC测温仪，精确到每一度，信赖之选。上海光纤测温仪检修
IN510和IN510-N红外测温仪是一款低价格、高性能数字式测温仪，用于非接触式测量金属、非金属、涂层金属表面、木材、橡胶、塑料等各种材质的温度。
IN510型号安装有一个发光的LCD液晶显示屏，可显示当前的测量温度;也可以通过液晶屏和按键设置所有的参数;IN510-N型号没有显示屏和键盘，可通过接口进行参数设定。
510型测温仪采用分体式设计，主机和传感头通过电缆线连接，测温仪都在出厂时即装配有不锈钢微型传感头，传感头视域有10:1或2:1，并且根据型号的不同，在无冷却的条件下，可以承受85-180°C的环境温度。 河南陶瓷测温光纤测温仪Weidmann测温仪，适应极端环境，性能卓著。
IPE140/45红外测温仪是IPE140的一款特殊版本，用于测量含有CO2的混合气体的温度;该测温仪采用特殊波段的探测器，能够在CO2吸收波段内的狭窄光谱范围内测量火焰和高温燃烧气体的温度;对于燃烧的高温混合气体，通常是含有10%CO2的混合气体，厚度大约40cm。该特殊型号与IPE140一样，具有140系列的所有功能和特性。
有三种镜头可以选择，可以实现极小的光斑尺寸，用于测量微小目标物体:镜头1:测量距离115mm-170mm;镜头2:测量距离210mm-500mm;镜头3:测量距离360mm-10000mm。
ISR6-TlAdvanced红外测温仪是一款集成比色(双色)红外测温仪和红外成像仪的测温和成像仪器;它能够精确测量视窗中心点的温度，并能够对视窗内的被测目标物体进行红外成像;它是在ISR6Advanced比色红外测温仪的基础上，集成了红外热成像仪，能够通过模拟视频信号输出接口，采用USB连接到电脑上，在Infrawin软件上形成红外热图像和温度信息，我们能够在红外图像中对感兴趣的ROI区域进行红外成像分析;可用于金属熔炼、真空炉、涂层、感应加热、玻璃行业、半导体行业等。Weidmann光纤测温，稳定可靠，提升生产监控水平。
IMPACIN5plus红外测温仪是IN5的高配型，要用于小目标物体的测量;还增加了高速响应的IN5-Hplus型号，用于需要快速测量的场合。
Plus系列适用于非接触式测量金属材料、非金属材料、石墨、陶瓷、喷漆、涂层或阳极氧化处理金属的温度;一体式的设计、坚固的不锈钢外壳、|P65防护标准，这些特点使得IN5plus红外测温仪可以适用于大多数恶劣的工况下长期稳定测量。plus型号均配备
0...20mA或4...20mA模拟信号，可切换;配置了RS232或RS485数字接口，可以方便连接到各种自动控制系统内，也可以连接电脑，采用专业用于软件实时动态测量、记录并保存数据。IN5-Lplus型号配置了更好测量视域的光学镜头，提供更好的光学系数比，用于远距离、小目标物体的测量。
IN5-Hplus型号具有0.01秒的响应速度，用于需要快速测量场合。为了满足各种测量距离和大小的目标物体，有三种镜头可选，可以根据实际测量距离、目标物尺寸来选择合适的镜头。配有用于电气装置的连接头，连接电缆线从2米到长30米根据需要选择。 精确测量，IMPAC光纤测温仪护航能源安全。河北国产光纤测温仪
IMPAC测温仪，高效解决高温环境监控难题。上海光纤测温仪检修
UV400的前身TR2100是*采用集成反射计(2001年)的高温计，为使用光纤镜头和950nm激光实时测量发射率建立了行业标准。蓝宝石光管传感器和实时的黑体校准源取得的研究进展提供了完整的温度测量解决方案。UV400和UVR400系统是专门为GaN基MOCVD外延工艺开发的下一代温度传感器。这些传感器可以直接测量晶圆表面温度，而非传统的基座温度。UVR400较UV400增加了一个635nm，0.5kHz测量速度的反射率测量仪，可测量沉积厚度.这些系统正在为LED生产过程设定一个新的标准，其结果显示工艺温度和终产品波长之间存在可靠的相关性.这种直接测量的方法可以更精确地控制晶片温度，从而提高成品率上海光纤测温仪检修
