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发射率测量仪基本参数
  • 品牌
  • DS
  • 型号
  • AE1/RD1
  • 类型
  • 材料检测
发射率测量仪企业商机

上海明策电子科技有限公司始终秉承“用户至上,服务为先”的理念,为每一位客户提供多方位、个性化的服务体验。从产品咨询、选型推荐到安装调试、售后维护,公司均配备了专业的技术团队,确保客户在使用过程中遇到任何问题都能得到及时、有效的解决。此外,公司还不断推出产品升级服务,确保客户始终能够享受到前沿的技术成果。在科技日新月异的如今,上海明策电子科技有限公司以其优良的发射率测量仪产品,正推动着精细测量技术的新纪元。我们坚信,在未来的日子里,上海明策将继续秉承创新精神,不断突破技术壁垒,为更多行业提供更加精细、高效的测量解决方案,共同推动科技进步与产业升级。让我们携手并进,共创美好未来!上海发射率测量仪厂家直销优势。红外发射率测量仪制造商

发射率测量仪

所有温度高于零度(-273°C)的物体都会辐射热能,这种热辐射主要在红外线范围内,肉眼看不见,可以使用特殊的光学传感器测量这些热能,并根据普朗克辐射定律将其转换为相关的温度等效值,从而显示物体温度。光学组件:辐射在镜头的帮助下聚焦并应用于传感器。传感器将辐射转换成电压,电压被放大并传递给微处理器。温度补偿:将记录的辐射与环境辐射的差值纳入测量。计算:处理器在考虑发射率的同时使用记录的辐射和环境辐射(=仪器温度)来计算测量物的温度。热表面材料发射率测量仪使用方法RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致。

红外发射率测量仪制造商,发射率测量仪

明策代理:半球发射率测量仪AE1&RD1——美国D&S-现货库存

读数器:D&S微型数字伏特计。

型号RD1输出:材料温度为25℃时,2.4毫伏通常对应材料发射率为0.9

线性关系:检测器输出和发射率成线性关系,精度为+0.01发单位测量时间:

10s加热装置:加热被测样品,使其在与标准体温度相同的情况下被测量样品温度:高达130华氏度,约为55℃

漂移:输出可能会随着环境而变化,但是在短时间测量内可以想睡不计标准体:提供两个高发射率标准体和两个地发射率标准体,其中一套标准可用来测量时使用,另一套标准体备用并作为参比。

电源:100-240V/50-60Hz,12V直流输出

测量波长:3-30um

测量范围:0-1测量精度:±0.01被测样品尺寸:Min5.7cm(可选配2.54cm样品探测器)外形尺寸:探测头中57X107mm,测量台H46mmx宽105mmxD152mm

标准配置:AE1探测头,高发射率标定块和低发射率标定块各2个,发射率测量仪,电源线,校准证书、操作手册、手提箱。

特定电磁波谱器的温度测试只能通过热电偶接触式测量,该方法测量的误差相对较大,采用热像仪进行非接触式测量,要使测量数据正确就必须测量得到一个准确的红外发射率,因此需要一台远红外发射率测量仪。设备为中国台湾进口设备。目前国产的同类设备不是单独成套的仪器设备,而是很多个部件系统所组成的一套系统,存在较大的系统误差,无法做到高精度,稳定、可靠性低,操作使用方法复杂繁琐,且需要操作人员自己进行数据换算,任一环节或部件出现问题,则导致数据误差。且后期维护不便等,另外系统部件多,加上人工安装、调试等,总体费用高。上海明策发射率测量仪的特点。

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    通常采用的反射计有热腔反射计、积分球(抛物面、椭球面等)反射计、镜面反射计及测角反射计等。(1)热腔反射计法测量范围通常为1~15μm,精度3%~5%,但该方法的精度在很大程度上取决于样品温度,而且必须很大低于热腔壁的温度,所以不适于高温测量,但此方法能测出样品的光谱及方向发射率,样品制备简便,设备简单,测试周期也较短,故仍得到一定应用。2)积分球反射计主要部分是一个具有高反射率的漫反射表面积分球。工作原理是被测样品置于球心处,入射光从积分球开口处投射到样品表面并反射到积分球内表面上,经过球面一次反射即均布在球表面上,探测器从另一孔口接收球内表面上的辐射能。然后某一已知反射率的标准样品取代被测样品,重复前述过程。两次测量辐射反射能之比即为反射率系数,被测样品的反射率即为此系数乘以标准样品的反射率。此方法温度范围宽,上限可达5000℃以上。(3)激光偏振法测量精度优于5%,测量时间小于,但只能测量光滑表面的材料发射率。原理为分别测量反射光两个偏振方向的强度比。 漂移:输出值可能随着外界环境的变化而改变,但是这些影响在本仪器这么短的检测时间内可以忽略。红外发射率测量仪制造商

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使用Model SSR version 6太阳光谱反射率测量仪需要一个直径约一英寸的平坦样品。该仪器在测量口处提供漫射辐射源,并以与表面法线成二十度的窄立体角测量反射能量。理想情况下,样品应当平坦且与测量口齐平。然而,一些表面虽然基本平坦但具有一定的纹理,例如铺石、压花材料等,由于这些表面有凸起和凹陷,导致某些部分无法与测量口齐平,因而可能无法被适当照明。表面有浅的特征和一个位于测量口中心附近的较深凹陷,这种情况下,只要测量口周围的表面基本齐平,测量误差通常很小。第二种表面由于边缘部分与测量口不齐平,导致无法获得正确的照明效果,反射率测量值会低于实际值。红外发射率测量仪制造商

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