OPO望远瞄准测试系统是一套用于测试光学瞄准系统的模块化多功能测试系统，OPO测试系统支持一系列重要参数的测试:分辨率，MTF(轴上，离轴)，放大率，畸变，视场，透过率，渐晕，出瞳距离，出瞳直径，屈光度范围，视差等。被测望远瞄准系统可以由这些参数来表征其性能。OPO测试系统对于望远瞄准系统的生产商，采购商或者维修站来说都是比较好的测试工具。OPO系统是人工由操作计算机系统的概念建立的，该系统可以对被测望远镜瞄准具生成的参考图像进行分析。简单的手工操作设计理念，模块化设计，可靠性高，使用寿命长。光电测试，助力影视制作，精确控制灯光效果。进口光电测试系统哪个好
ORI光学镜头测试系统是一台通用型光学镜头测试系统。该系统可以测量镜头的所有重要参数：MTF，分辨率，EFL，畸变，渐晕，透过率，BFL，工作焦距，焦深，场曲，色差等。可测试波段涵盖了VIS,NIR,SWIR,MWIR和LWIR，也可用于测试多波段光学系统，列如VIS-SWIR和MWIR-LWIR。
ORI测试系统原理：目标发生器放置在被测镜头的焦平面上形成一套投影系统，透射出的平行光入射平行光管，蕞终成像到相机的接收面上。ORI测试系统蕞大的特点是采用逆光路测量原理，较一般正光路的测量系统具有独特的优势。 福建光电测试系统性价比高光电系统应用于科研，守护安全的技术盾牌。
DT系列检测设备是用千实验室条件下对热像仪各项性能检测的设备。如果需要的话DT设备还可以检测TV/LLLTV成像，或者热像仪和TV/LLLTV成像之间的光轴校正。注：推荐用MS设备来检测和校准感应器比较多的系统。DT系列设备采用了一个可调的投射源，所以可以用不同的投射源去投射被测的热像仪（或者TV/LLLTV成像）。被测的成像仪会产生基千这个投射源的一个扭曲的图像。一般由人或者软件通过该图像去判断被测成像仪的性能，被测成像仪的所有重要特征检测项都包含在内。DT系列设备可以检测热像仪、TV/LLLTV成像仪、超长距离设备、乃至航天领域设备。DT系列设备是模块化的检测设备，可以根据不同的待测物轻松的做出优化。从基本的短程热像仪到大型的机载监视系统等所有宽泛的监测设备都可以轻松应对。DT系列设备可以说是目前市场上高性价比的产品。
Inframet生产的离轴反射式平行光管采用垂直结构，平行光管的焦平面位于反射镜垂直方向的上方。这种类型的平行光管实现了测试系统的简单化结构设计（只需较小、较窄的光学平台）。而且，垂直结构的平行光管更为先进之处在于系统用于热像仪的测试时，垂直结构的黑体温度的均匀性要优于使用相同模块的水平结构。
Inframet采用典型的保护铝镀膜作为反射镜的镀膜材料，如果在可见光-近红外波段达到均匀的反射率，则保护铝镀膜可以作为次反射平面镜或者两面反射镜的镀膜材料。如果在远红外波段需要达到非常高的反射率则需要使用保护金作为辅助镜（或者两个反射镜）的材料。我们可以根据您所需口径和焦距精度等提供定制化平行光管，满足您的需求。 光电系统，助力制药行业，提升药品质量。
MTB系列黑体是精密的面源黑体，旨在模拟中温目标。使用一个薄的面加热元件来控制散热器温度。黑体散热器的***温度可以调节在约50摄氏度到550摄氏度之间。发射器面积可以从50x50mm到500x500mm，具体取决于型号。应用MTB黑体可用于一系列可能的应用：1、在中温范围内测量热像仪的精度（已知温度的面源）。2、监控系统SWIR成像仪3、用于测试SWIR/MWIRFPAs的系统
至高温度：典型的至高温度为550℃。如果不需要这样的温度，则最高温度可以降低到350℃，并且提供更好的热均匀性。 IR FPA 传感器 焦平面阵列传感器，为智能穿戴设备提供精细传感器测试。山西黑体光电测试系统
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红外靶标用于测试红外成像系统（热像仪）的红外靶标是通过在金属薄板上加工不同图形的孔而形成不同的靶标。当黑体照射靶标时，被测试的热像仪会观察到在均匀背景下的边界锐利的靶标图形，靶标的温度等同于黑体的温度，我们的用于测试红外热像仪的DT/MS系统采用了一系列相对小尺寸的靶标（直径54mm）用于匹配MRRW-8旋转靶轮，相对大尺寸的红外靶标用于LAFT测试系统。
靶标精度：a)±0.012mm，靶标孔**小尺寸大于0.125mm。b)±10**，靶标孔**小尺寸小于0.125mm。c)±0.001mm，针对刀口靶标线性度（用于MTF测量）。
Inframet提供了14种不同类型的标准红外靶标：注意：Inframet标准靶标的有效区域(高发射率涂层覆盖的区域)直径为54mm，Inframet靶标的机械尺寸适用于标准MRW-8靶轮。Inframet可以提供匹配任意生产商制造的靶轮的匹配靶标。 进口光电测试系统哪个好
