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反射率测量仪基本参数
  • 品牌
  • MIKORN,IMPAC,DS,AZ
  • 型号
  • AE1/RD1;
  • 类型
  • 红外发射率
  • 产地
  • 上海
反射率测量仪企业商机

TEMP 2000A采用先进的光学系统设计,可提供在约3~35μm下各种样品的半球发射率,法向发射率,红外反射率测量,且不会受光路上任何的滤光片或者窗口限制;TEMP2000A的光学系统光学设计是非常精密的,采用了先进的光学准直技术,即AZ有准直技术(美国专利号5,659,397),以确保仪器有更好的紧凑性和便携性,以及更高的测量精度和使用方便性。

TEMP 2000A的生产和制造严格遵循ASTME408标准,并且可以替代已经停产的GierDunkleDB-100IR。在实验室环境中,样品只需要放在测量头的端口上,即可轻松地进行反复测量,如果需要带到户外使用,则配上电池组和背带即可; 反射率仪,技术参数清晰,应用行业宽泛。海南AZ反射率测量仪

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SPECTRAFIRE有两种工作模式:

除了对各种样品进行光谱分析和追踪外,SPECTRAFIRE还可以使用一种特殊的标定块来测定不透明样品的半球发射率。SPECTRAFIRE所测得的发射率光谱数据并不取决于光源的光谱,且测量温度也不局限于300K。

SPECTRAFIRE可以测量高于300K温度的样品和非灰体样品的光谱发射率;SPECTRAFIRE光学设计一道经过校准的红外光束从Nicolet光谱仪打入SPECTRAFIRE左端输入端,SPECTRAFIRE内部有一个离轴抛物面镜将光束聚焦并打到样品上。

样品台位于SPECTRAFIRE的正上方,中间有一个小孔即为聚焦的光束的出光孔,样品需要放置在出光孔上,此聚焦光束打在样品上,样品的反射光会通过SPiSteradians聚焦到内部的探测器上。探测器收集到的此光信号再发送到FTIR光谱仪内。另外SPECTRAFIRE内部还安装了其他斩波装置,用于绝  对测量模式下的测量;SPECTRAFIRE内部所有的光学元器件都外置了特制的金涂层,以确保在仪器整个波段范围内极低的光学能量损耗。 山西AZ反射率测量仪精确测量,TEMP 2000A反射率仪器赋能各行业技术升级。

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消费者希望反射率测量仪能够具备多种功能,以满足不同应用场景的需求。例如,能够测量不同波长下的反射率、具备数据存储和分析功能等。价格与性价比价格是消费者购买决策的重要因素之一。消费者希望购买到性价比高的反射率测量仪,即在保证测量精度和稳定性的前提下,价格相对合理。售后服务与技术支持良好的售后服务和及时的技术支持是消费者购买反射率测量仪时的重要考虑因素。企业需要提供完善的售后服务体系和技术支持服务,以确保消费者在使用过程中能够得到及时的帮助和支持。

发射率测量仪消费者需求分析

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使用Model SSR version 6太阳光谱反射率测量仪需要一个直径约一英寸的平坦样品。该仪器在测量口处提供漫射辐射源,并以与表面法线成二十度的窄立体角测量反射能量。理想情况下,样品应当平坦且与测量口齐平。然而,一些表面虽然基本平坦但具有一定的纹理,例如铺石、压花材料等,由于这些表面有凸起和凹陷,导致某些部分无法与测量口齐平,因而可能无法被适当照明。一种表面有浅的特征和一个位于测量口中心附近的较深凹陷,这种情况下,只要测量口周围的表面基本齐平,测量误差通常很小。第二种表面由于边缘部分与测量口不齐平,导致无法获得正确的照明效果,反射率测量值会低于实际值。化工行业检测神器,反射率仪性能稳定可靠。安徽反射率测量仪

LPSR 300便携式反射率光谱仪,灵活应对多行业,技术参数是关键。海南AZ反射率测量仪

15R-USB便携式镜面反射率计使用660nm的LED光源,通过校准光学部件产生10mm直径光束源。反射的光束穿过3个孔中的1个。标准接收角度为15、25和46毫弧度,还提供7毫弧度可选孔径。15R-USB基座上还提供两个可调节的支承点,可用来调准反射光束与接收光学系统。仪器支持点处具有可调节的限位装置,是为了测量头层表面反射率,具体如何调节,由反射镜厚度和第二表面反射率决定。为了确认对准,可旋转检测器,通过15R-USB顶部的目镜查看光学路径和反射光束。LED光源通过电子截光并同步测量反射光束以消除杂散光误差。同时,光源通过参比检测器监测以减少热漂移。增益调节可将测量值精确到0.001。在仪器的底部,提供一个封装的标准体。海南AZ反射率测量仪

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