但这样也会使量子效率降低;为维持高量子效率,需提高摻杂浓度,而如此一来又会导致暗电流激增,严重破坏探测器性能｡BIB探测器是解决以上困境的比较好解｡BIB探测器是传统非本征探测器在结构上的一种巧妙升级,即在吸收层与一侧电极之间引入一层高纯度的本征基底材料作为阻挡层来抑制暗电流,这样可以保证在吸收层掺杂浓度**增加的同时,暗电流也能维持在很低的水平｡不仅如此,掺杂浓度的增加也拓宽了探测器的响应范围｡关于红外热像仪芯片材料体系介绍就到这儿，对半导体感兴趣的同学，欢迎阅读其他文章！红外热像仪可以用于夜视吗？中高温红外热像仪试用
热电堆又叫温差电堆，它利用热电偶串联实现探测功能，是较为古老的一种IR探测器。以前，热电堆都是基于金属材料制备的，具有响应速度慢、探测率低、成本高等致命劣势，不受业内人士的待见。随着近代半导体技术的迅猛发展，半导体材料也被应用到了热电堆的制作中。半导体材料普遍比金属材料的塞贝克(Seebeck)系数高，而且半导体的微加工技术保证了器件的微型化程度，降低其热容量，因此热电堆的性能得到了**地优化。互补金属氧化物半导体(CMOS)工艺的引入，让红外热像仪热电堆芯片电路技术实现了批量生产。testo 858红外热像仪维修实时显示：实时显示全辐射红外热图，值班人员可通过红外热像仪查看任意位置的温度。
测量表面温度一般采用非接触红外高温计，必须注意在测量时需要调整红外热像仪所使用的发射率ε，发射率是材料及其表面状况的特性，采用不正确的发射率会产生明显的测量误差。有两种方法可以在静态表面上校准发射率，***个方法是使用接触式高温计测量温度，然后将红外高温计指向同一点并调整发射率，直到温度读数与接触式温度计的读数相同；第二个方法是在被测表面粘上黑胶布，或者涂上黑漆，然后用测得的温度校准红外高温计。常用特定温度下水泥窑系统表面发射率见表1。
对表面散热的计算还可以采用公式法，本文中的公式法源于《化工原理》中的传热学部分，对于具体传热系数的计算方法则来自于拉法基集团水泥工艺工程手册及拉法基集团热工计算工具中使用的经验计算公式。公式法将表面散热分为辐射散热和对流散热分别进行计算，表面的总热损失是辐射和对流损失的总和：Q总=Q辐射+Q对流。1）红外热像仪辐射散热而言，附件物体的表面会把所测外壳的热辐射反射回外壳，从而减少了热量的传递，辐射热量的减少量取决于所测外壳的大小、形状、发射率和温度。所测壳体的曲面以及壳体大小、形状和距离将影响可视因子，这里所说的可视因子是指可以被所测外壳“看到”的附件物体表面的比例。即使对于相对简单的形状，可视因子的计算也变得相当复杂，因此必须进行假设以简化计算。红外热像仪的图像是否可以进行后期处理？
由于大尺寸HgCdTe FPA探测器的制作成本居高不下,QWIP FPA探测器被寄予厚望,因而发展迅速｡在LWIR波段,目前QWIP FPA探测器的性能足以与**的HgCdTe相媲美｡QWIP也存在一些缺点:因存在与子带间跃迁相关的基本限制,QWIP需要的工作温度较低(一般低于液氮温度)，QWIP的量子效率普遍很低｡一般而言,PC探测器的响应速度比PV慢,但QWIP PC探测器的响应速度与其它PV红外热像仪相当,所以大规模QWIP FPA探测器也被研制了出来｡与HgCdTe—样,QWIP FPA探测器也是第三代IR成像系统的重要成员,这类探测器在民用与天文等领域都有着大量的使用案例｡无人机采用红外热像仪以后，电力巡线将不再翻山越岭，爬高上低，望远镜也将“退休”。德国原装进口红外热像仪价格优惠
当两个表温度相差0.03℃时，红外热像仪能测量出差异，在做体温筛查时，高热灵敏度有助于发现轻微发热者。中高温红外热像仪试用
钢铁企业生产线上设有各类仪表和传感器，测量轧钢过程各种参数，并将结果送轧线计算机系统。高精度的轧线测量仪表和传感器是基础自动化、过程自动化和管理自动化的关键。轧制产品生产中的轧线仪表和传感器，包括通用的常规仪表和特殊仪表，前者如加热炉用仪表、轧线的红外热像仪、连续退火生产线上分析炉内还原性气体的氢气和一氧化碳分析仪等，后者如测量冷热轧带钢的厚度计、宽度计等。下面对常见的特殊仪表和特殊传感器进行总结：中高温红外热像仪试用
