眼图测量方法(传统眼图测量方法),眼图测量方法有两种:传统眼图测量方法用中文来理解是八个字:“同步触发+叠加显示”,现代眼图测量方法用中文来理解也是八个字:“同步切割+叠加显示”。两种方法的差别就四个字:传统的是用触发的方法,现代的是用切割的方法。“同步”是准确测量眼图的关键,传统方法和现代方法同步的方法是不一样的。“叠加显示”就是用模拟余辉的方法不断累积显示。传统的眼图方法就是同步触发一次,然后叠加一次。每触发一次,眼图上增加了一个UI,每个UI的数据是相对于触发点排列的,因此是每触发一次眼图上只增加了一个比特位。图一形象表示了这种方法形成眼图的过程。眼图示波器系统及眼图测试方法?自动化眼图测试多端口矩阵测试
传统眼图测量方法的原理传统方法的个缺点就是效率太低。对于现在的高速信号如PCI-ExpressGen2,PCI-SIG要求测量1百万个UI的眼图,用传统方法就需要触发1百万次,这可能需要几个小时才能测量完。第二个缺点是,由于每次触发只能叠加一个UI,形成1百万个UI的眼图就需要触发1百万次,这样不断触发的过程中必然将示波器本身的触发抖动也引入到了眼图上。对于2.5GBbps以上的高速信号,这种触发抖动是不可忽略的。如何同步触发,也就是说如何使每个UI的数据相对于触发点排列?也有两种方法,一种方法是在被测电路板上找到和串行数据同步的时钟,将此时钟引到示波器作为触发源,时钟的边沿作为触发的条件。另外一种方法是将被测的串行信号同时输入到示波器的输入通道和硬件时钟恢复电路(CDR)通道,硬件CDR恢复出串行数据里内嵌的时钟作为触发源。这种同步方法引入了CDR抖动,这是传统方法的第三个缺点。自动化眼图测试多端口矩阵测试眼图测试分析系统参数?
DDR眼图测试1-5
,对于物理层无论是仿真还是一致性测试软件得到的数据,都可以通过数据分析工具 N8844A 导入到云端,通过可视化工具,生成统计分析表格,对比性分析高低温、高低电压等极端情况下不同的测试结果,比较不同被测件异同。为开发测试部门提供灵活和有效的大数据分析平台。
除了在物理层信号质量和基本时序参数之外,DDR 总线的状态机复杂时序特性,以及总线的命令操作解析需要通过逻辑分析仪辅助分析。是德科技的U4164A 逻辑分析仪,同步分析速率可以达到 4Gbps,采样窗口可以低至 100mv x 100ps,单路采集样本高达 400M,对于 DDR4 的测试是非常合适的,另外配合 B4661A memory 分析软件,可以解析 DDR4 会话操作,实现 DDR4 总线的命令解码,解析 MRS,命令,行列地址,并可以直接触发物理地址捕获特定信号,利用深存储的大量样本,可以对DDR 总线的性能进行分析,包括统计内存总线有效吞吐速率,统计各种命令操作以及总线利用率,分析对不同内存地址空间的访问效率。另外利用是德科技独有的逻辑分析仪内部眼图扫描功能,可以同时分析扫描总线各个比特位的眼图质量。
在对于一个眼图进行好和坏的评估时,通常都有一些常见的衡量指标,比如眼高,眼宽,抖动,占空比等,如上图。通过对眼睛不同部位的表征,可以快速地判断和定性信号的问题。比如眼图跳变沿交叉点的上下区域可以占空比,如果上下区域比例不对称,则占空比的结果可能存在问题。
有时候为了能简单直观地判断眼图指标是否符合要求,可以将规范定义的要求制作成一个模板,然后通过示波器来调用,便可以直接观察到眼图是否有接触到模板。如果没有接触到则表示眼图的指标符合规范要求,同样如果有接触到模板,也可以根据接触的位置针对性的改善。不需要像传统的测试方法去一一地测量眼图指标了 眼睛张开度与误码率的关系。
克劳德高速数字信号测试实验室眼图测试其他概念编辑播报消光比消光比(ExtinctionRatio)定义为眼图中“1”电平与“0”电平的统计平均的比值,其计算公式可以是如下的三种:消光比在光通信发射源的量测上是相当重要的参数,它的大小决定了通信信号的品质。消光比越大,象征在接收机端会有越好的逻辑鉴别率;消光比越小,表示信号较易受到干扰,系统误码率会上升。消光比直接影响光接收机的灵敏度,从提高接收机灵敏度的角度希望消光比尽可能大,有利于减少功率代价。但是,消光比也不是越大越好,如果消光比太大会使激光器的图案相关抖动增加。因此,一般的对于FP/DFB直调激光器要求消光比不小于,EML电吸收激光器消光比不小于10dB。一般建议实际消光比与比较低要求消光比大。这不是一个完全的数值,之所以给出这么一个数值是害怕消光比太高了,传输以后信号劣化太厉害,导致误码产生或通道代价超标。构建眼图和进行眼图模板测试的方法?自动化眼图测试多端口矩阵测试
对符号波形序列所显示的眼图性能参数进行度量的过程。自动化眼图测试多端口矩阵测试
由于眼图是用一张图形就完整地表征了串行信号的比特位信息,所以成为了衡量信号质量的重要工具,眼图测量有时侯就叫“信号质量测试”。此外,眼图测量的结果是合格还是不合格,其判断依据通常是相对于“模板(Mask)”而言的。模板规定了串行信号“1”电平的容限,“0”电平的容限,上升时间、下降时间的容限。所以眼图测量有时侯又被称为“模板测试(MaskTest)”。模板的形状也各种各样,通常的NRZ信号的模板如图五和图八蓝色部分所示。在串行数据传输的不同节点,眼图的模板是不一样的,所以在选择模板时要注意具体的子模板类型。如果用发送端的模板来作为接收端眼图模板,可能会一直碰模板。但象以太网信号、E1/T1的信号,不是NRZ码形,其模板比较特别。当有比特位碰到模板时,我们就认为信号质量不好,需要调试电路。有的产品要求100%不能碰模板,有的产品是允许碰模板的次数在一定的概率以内。示波器中有测量参数可自动统计出碰到模板的次数。此外,根据“侵犯”模板的位置就能知道信号的哪方面有问题从而指导调试。如图九表明信号的问题主要是下降沿太缓,图十表明1电平和0电平有“塌陷”,可能是ISI问题导致的。自动化眼图测试多端口矩阵测试
眼图的模板测试 前面介绍的眼图是一种快速对信号进行统计分析的测量方法,对于信号质量的定性分析和Debug比较有用,但是在有些情况下,测量出信号的眼高、眼宽等参数还不够,我们还需要快速判决该被测信号是否满足相应的总线的规范要求,这时候就会用到模板测试。 所谓模板,就是把对于信号高电平的范围要求、低电平的范围要求、抖动的范围等的指标事先定义好,然后把这些要求做成一个模板文件。典型的模板定义有3部分区域组成,上面的区域定义了对信号的幅度要求,下面的区域定义有3部分区域组成,区域定义对信号的眼图张开度要求。 DDR测试USB眼图测试设备?眼图测试DDR测试 误码率在数字电路系统中,发...