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眼图测量方法（传统眼图测量方法），眼图测量方法有两种：传统眼图测量方法用中文来理解是八个字：“同步触发+叠加显示”，现代眼图测量方法用中文来理解也是八个字：“同步切割+叠加显示”。两种方法的差别就四个字：传统的是用触发的方法，现代的是用切割的方法。“同步”是准确测量眼图的关键，传统方法和现代方法同步的方法是不一样的。“叠加显示”就是用模拟余辉的方法不断累积显示。传统的眼图方法就是同步触发一次，然后叠加一次。每触发一次，眼图上增加了一个UI，每个UI的数据是相对于触发点排列的，因此是每触发一次眼图上只增加了一个比特位。图一形象表示了这种方法形成眼图的过程。一种眼图测试方法和眼图测试系统？PCI-E测试眼图测试眼图测试

DDR眼图测试1-5

，对于物理层无论是仿真还是一致性测试软件得到的数据，都可以通过数据分析工具 N8844A 导入到云端，通过可视化工具，生成统计分析表格，对比性分析高低温、高低电压等极端情况下不同的测试结果，比较不同被测件异同。为开发测试部门提供灵活和有效的大数据分析平台。

除了在物理层信号质量和基本时序参数之外，DDR 总线的状态机复杂时序特性，以及总线的命令操作解析需要通过逻辑分析仪辅助分析。是德科技的U4164A 逻辑分析仪，同步分析速率可以达到 4Gbps，采样窗口可以低至 100mv x 100ps，单路采集样本高达 400M，对于 DDR4 的测试是非常合适的，另外配合 B4661A memory 分析软件，可以解析 DDR4 会话操作，实现 DDR4 总线的命令解码，解析 MRS，命令，行列地址，并可以直接触发物理地址捕获特定信号，利用深存储的大量样本，可以对DDR 总线的性能进行分析，包括统计内存总线有效吞吐速率，统计各种命令操作以及总线利用率，分析对不同内存地址空间的访问效率。另外利用是德科技独有的逻辑分析仪内部眼图扫描功能，可以同时分析扫描总线各个比特位的眼图质量。 智能化多端口矩阵测试眼图测试方案基于眼图测试的USB接口链路故障定位方法？

眼图测试眼图测试，也是常规的测试方法。针对有相关规范要求的接口，如USB、SATA、HDMI、10/100BASE-T、光接口等。该系列标准接口信号的眼图测试，主要通过具有MASK的示波器（含通用示波器、采样示波器、信号分析仪）。这类示波器内部具有的时钟提取功能，能够显示眼图，对于没有MASK的示波器，可以使用外接时钟进行触发。不同的眼图可以反映不同的信号质量：眼图的张开度与抖动和BER相关联；眼图张开越大，表明对噪声和抖动的容许误差越大；眼图张开越大，表明接收器判断灵敏度越好；眼顶、眼底和转换区域宽表明接收器判断灵敏度降低常见需要做眼图测试的产品：内置主机适配器、相机、键盘鼠标、网络装置、打印机、磁盘驱动器、音响、台式计算机、媒体卡阅读机、笔记本电脑、可移动媒体、电话、蓝牙、电子游戏装置、鼠标、OTG装置、扫描仪、CD/DVD、硬盘机、移动电话、PDA、扬声器、电缆接驳器、插座、调制解调器、存储装置，I/O适配器、显示器、电源保护等

误码率在数字电路系统中，发送端发送出多个比特的数据，由于多种因素的影响，接收端可能会接收到一些错误的比特（即误码）。错误的比特数与总的比特数之比称为误码率，即BitErrorRatio，简称BER。误码率是描述数字电路系统性能的**重要的参数。在GHz比特率的通信电路系统中（比如FibreChannel、PCIe、SONET、SATA），通常要求BER小于或等于。误码率较大时，通信系统的效率低、性能不稳定。影响误码率的因素包括抖动、噪声、信道的损耗、信号的比特率等。 1”电平和”0”电平取眼图中间20%UI部分向垂直轴投影做直方图，直方图中心值分别为“1”电平和“0”电平。

克劳德高速数字信号测试实验室

完整性测试常用设备1,数字示波器,根据传输的速率选择不同带宽的示波器。2,测试夹具,根据不同的接口配置对应的测试夹具。3,示波器探头,根据接口选择不同探头。4,其他可测试能会用到的线缆

眼图测试的基本步骤:1、按照捕获信号的基本原则(过采样、小化量化误差、捕获足够长的时间)实现对信号的高保真捕获;2、设置合适的PLL;3、设置眼图的模板和子模板;4、测量相关眼图参数。

测量方法编辑 播报眼图测试是高速串行信号物理层测试的一个重要项目。眼图是由多个比特的波形叠加后的图形，从眼图中可以看到:数字信号1电平、0电平，信号是否存在过冲、振铃，抖动是否很大，眼图的信噪比，上升/下降时间是否对称(占空比)。眼图反映了大数据量时的信号质量，可以直观地描述高速数字信号的质量与性能。 眼睛张开度与误码率的关系。智能化多端口矩阵测试眼图测试方案

眼图测试比较好抽样时刻应 在 "眼睛" 张开比较大的时刻。PCI-E测试眼图测试眼图测试

    对于DDR源同步操作，必然要求DQS选通信号与DQ数据信号有一定建立时间tDS和保持时间tDH要求，否则会导致接收锁存信号错误，DDR4信号速率达到了，单一比特位宽为，时序裕度也变得越来越小，传统的测量时序的方式在短时间内的采集并找到tDS/tDH差值，无法大概率体现由于ISI等确定性抖动带来的对时序恶化的贡献，也很难准确反映随机抖动Rj的影响。在DDR4的眼图分析中就要考虑这些抖动因素，基于双狄拉克模型分解抖动和噪声的随机性和确定性成分，外推出基于一定误码率下的眼图张度。JEDEC协会在规范中明确了在DDR4中测试误码率为1e-16的眼图轮廓，确保满足在Vcent周围Tdivw时间窗口和Vdivw幅度窗口范围内模板内禁入的要求。 PCI-E测试眼图测试眼图测试

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