基于x射线断层照相的原位加载装置:采用荷载力承受在内部的自洽装置是一种合适的选择,同时该装置需要使用让X射线尽量通过的窗口材料,考虑到断层照相一般需要旋转180度或360度,X射线窗口材料将不可避免的成为承力结构,因而选择合适的窗口材料以及对其进行合理的固定、连接成为技术难题。鉴于此,本发明选择对X射线衰减小且具有优良力学性能的碳纤维增强塑料作为窗口材料,利用侧向紧固螺栓加压和固定销固定的双重固定方法,解决了光滑的碳纤维增强塑料棒与金属间的固定问题,开发了专门应用于X射线断层照相的原位加载装置。该装置是一个单独于X射线断层照相设备的自洽机构,即荷载只作用在装置内部,不作用在样品台上。原位加载扫描电镜对材料的性能,寻求提高材料力学性能的途径,成为材料科学研究中的重要工作。广东uTS原位加载试验机
SEM原位加载设备的原理:能显示各种图像的信息是由于聚焦的电子束与样品的相互作用而产生的各种信号。相互作用区的线性体积:a.随原子序数的增加而减小;b.随电子束能量的增加而增加;c.电子束与样品的角度关系是倾斜角增加时,相互作用区变小。样品的成分、加速电压都影响相互作用区,一般情况下,相互作用区比束斑大,每种信号从固体发出的空间范围,是决定扫描图像空间分辨能力的重要因素。为了获得较高的信号强度和扫描像(尤其是二次电子像)分辨率,扫描电子束应具有较高的亮度和尽可能小的束斑直径。新疆SEM原位加载试验机总代理原位加载设备系统双轴单独控制,可实现双轴比例加载、双轴非比例加载、单轴单独加载。
SEM原位加载设备扫描电子显微镜:扫描电子显微镜,简称为扫描电镜,英文缩写SEM(ScanningElectronMicroscope)。它是用细聚焦的电子束轰击样品表面,通过电子与样品相互作用产生的二次电子、背散射电子等对样品表面或断口形貌进行观察和分析。SEM已大范围的应用于材料、冶金、矿物、生物学领域。通常人眼能够分辨的较小距离为0.2MM,为了观察分析更微小的细节,人们发明了各种观察仪器。出现的是光学显微镜,它利用可见光作为照明束照射样品,再将照明束与样品的作用结果由成像放大系统处理,构成适合人眼观察的放大像。一般而言光学显微镜能分辨的较小距离约为200um,是人眼的一千倍。
扫描电镜原位加载技术及其进展:在扫描电镜中组装具有拉伸、压缩、弯曲、剪切等功能的附加加载装置后,可以将加载作用与对材料表面结构的显微观测研究结合起来,甚至与材料的宏观力学性能研究相结合,从而为研究影响材料力学性能的关键因素提供有力支撑。从上世纪60年代末期开始,原位加载扫描电镜技术逐渐成为材料性能研究中的一种重要技术,从而获得了大范围的应用,其中以原位拉伸试验应用较多。在扫描电镜内对环氧树脂CT试样加载,观察分析了裂尖场材料的微观力学行为,结果表明,低速加载时,裂纹的扩展是不连续的,扩展的模式为裂尖张开、钝化和向前扩。裂尖应力应变场内的应变不均匀,在裂尖的正前方和与裂面成35°~40°角处出现高应变区,微损伤在该区域萌生的发展,从而增加材料的裂纹扩展抗力。CT原位加载设备特点有多种保护功能,确保设备安全运行。
uTS原位加载系统:光学显微镜和DIC数字图像相关技术的结合,可以满足纳米级精度测量需求。光学显微镜受可见光波长限制分辨率只能达到250nm,由于DIC技术具有强大图像处理能力可以准确实现0.1像素位移测量,因此uTS显微测试系统的分辨率可达到25nm。在光学显微镜下材料的原位加载实验中,较大挑战在于加载过程产生的离面位移,高分辨率位移场需要高放大倍数显微镜,意味着景深很小,几微米的离面位移就会造成显微镜失焦。uTS显微测试系统针对离面位移有特殊的设计,有效地控制了离面位移对实验结果影响。利用X射线断层照相设备对损伤前后的样品进行非原位测试没有问题。上海Psylotech试验机销售商
扫描电镜原位加载设备的特点有制样简单、放大倍数可调范围宽、图像的分辨率高、景深大。广东uTS原位加载试验机
CT原位加载系统:基于ARM技术和WiFi技术给出了一种无线数据采集方案,避免了旋转扫描过程中传感器外接连线带来的缠绕和遮挡问题,实现了多路数据的实时可靠采集。整个采集系统由安装在加载装置上的下位机、放置于CT屏蔽室的无线路由器、放置于CT監控室的PC上位机三部分组成。下位机与路由器通过无线连接,路由器与上位机通过网线连接,从而实现下位机与上位机的网络连接。下位机采用ARM+WiFi模式,电池供电,可以实现压力变送器信号的高精度采集,并采用UDP协议将数据实时传输给上位机。广东uTS原位加载试验机
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