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原位加载系统基本参数
  • 品牌
  • Psylotech
  • 型号
  • μTS,xTS
原位加载系统企业商机

基于x射线断层照相的原位加载装置:随着损伤及缺陷结构研究的深入,科研工作者需要知道在载荷作用下,材料的三维微细观结构损伤发展及演变的规律。利用X射线断层照相设备对损伤前后的样品进行非原位测试没有问题,但为了更准确的把握损伤演化过程以及更方便的对X射线断层照相数据进行对比处理获得定量演化数据,需要原位加载系统。考虑到样品台在断层照相数据采集过程中需要旋转运动,而且样品台的较大荷载有限,所以很难把加载系统的力直接加到样品台来实现原位实验。SEM原位加载设备扫描电子显微镜,简称为扫描电镜。青海Psylotech原位加载试验机代理商

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扫描电子显微镜的应用:1、扫描电镜观察大试样的原始表面:扫描电镜能够直接观察直径100mm,高50mm,或更大尺寸的试样,对试样的形状没有任何限制,粗糙表面也能观察,这便免除了制备样品的麻烦,而且能真实观察试样本身物质成分不同的衬度(背反射电子象)。2、扫描电镜观察试样区域细节:试样在三度空间内有6个自由度运动(即三度空间平移、三度空间旋转)。且可动范围大,这对观察不规则形状试样的各个区域带来极大的方便。3、扫描电镜连续观察:扫描电镜进行从高倍到低倍的连续观察,放大倍数的可变范围很宽,且不用经常对焦。四川原位加载系统多少钱原位加载设备一些特殊的应用,样品需要放置在特殊的模拟环境中进行检测。

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uTS原位加载系统:光学显微镜和DIC数字图像相关技术的结合,可以满足纳米级精度测量需求。光学显微镜受可见光波长限制分辨率只能达到250nm,由于DIC技术具有强大图像处理能力可以准确实现0.1像素位移测量,因此uTS显微测试系统的分辨率可达到25nm。在光学显微镜下材料的原位加载实验中,较大挑战在于加载过程产生的离面位移,高分辨率位移场需要高放大倍数显微镜,意味着景深很小,几微米的离面位移就会造成显微镜失焦。uTS显微测试系统针对离面位移有特殊的设计,有效地控制了离面位移对实验结果影响。

台式扫描电镜的工作原理:产生一系列电子信息(二次电子、背反射电子、透射电子、吸收电子等),检测器接收各种电子信号,经电子放大器放大后输入到显像管控制的显像管。显像管网格。当聚焦的电子束扫描样品表面时,样品的不同部位具有不同的物理、化学性质、表面电位、元素组成和不均匀的形貌,从而产生不同的电子束激发的电子信息,从而导致电子显像管的光束强度也不断变化,之后在显像管的荧光屏上可以得到与样品表面结构相对应的图像。根据探测器接收到的不同电子信号,可以分别得到样品的背散射电子图像、二次电子图像和吸收电子图像。uTS原位加载系统可以满足纳米级精度测量需求。

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SEM原位加载设备的基本构造和成像原理:组成部件:电子设备、电子透镜、扫描系统、电子收集系统(形貌分析)、成像荧光屏、X射线接收系统。由电子设备发出的电子束在电场的作用下加速,经过三个透镜聚焦成直径为5nm或更细的电子束。该电子束在样品表面进行逐行扫描,激发样品产生出各种物理信号。信号探测器收集这些并按顺序、成比例地转换为视频信号。通过对其中某种信号的捡测,视频放大和信号处理,之后在显示屏上获得能反映样品表面特征的扫描图象。扫描电镜原位技术已经大范围应用于材料科学研究的各个领域。浙江原位加载试验机销售商

SEM原位加载实验系统的应用范围,对材料力学性能研究的贡献也有限。青海Psylotech原位加载试验机代理商

数字图像分析技术在扫描电镜原位加载技术中的应用:研究发现,对材料在不同延伸率下分形维数进行作图,分形维数变化的拐点预示了固体颗粒与粘合剂脱湿变化的发生,具有统计学的比较意义;利用分形维数变化速率及变化拐点的比较,可以对固体推进剂的力学规律进行分析研究。该研究的探索为粘弹性材料实验力学的研究提供了新的研究思路。作为通用测试系统,μTS为不同类型的夹具配备了T型槽接口。三角形/平面界面几何形状确保精确的旋转对齐。青海Psylotech原位加载试验机代理商

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