黑体的主要功能是产生一定温度下的标准辐射。因此在温度计量中主要用于检定各种辐射温度计，如光学高温计、红外温度计、红外热像仪等。随着科学技术的发展，黑体的用途已经不局限于在温度计量方面的应用。在光学方面，已经普遍采用黑体作为标准辐射源和标准背景光源。在测量领域里，黑体已经用于测量材料的光谱发射、吸收和反射特性。在高能物理的研究中，黑体已经用作为产生中子源。不同的用途对黑体的要求是不一样的。在温度计量领域，主要是利用黑体辐射和温度的对应关系，因此要求黑体的发射率越高越好。要求黑体的辐射能量按照光谱分布（也就是黑体光谱辐射能量、也称为单色能量）都能符合普朗克定律，这样我们在检定或校准辐射温度计时，以黑体的温度（或标准辐射温度计）的示值，来修正辐射温度计的偏差。因此在选择黑体时通常是选择发射率较高的腔式黑体，同时也要注意黑体腔口直径，温度均匀性和辐射温度不确定度。在光学应用中，通常要求辐射源的辐射面积较大，但是温度不高，只关注辐射面的温度均匀性而不一定关注辐射能量与温度对应的准确性，因此选择面源黑体较多。 ***，经一段时间风扇冷却，使得黑体炉温度降至室温后，即可拔电源插头。高精度黑体炉性价比
研究发现，发射率越高，黑体辐射对环境的敏感度越低，受环境温度影响越小。黑体炉的优势之一就是其高发射率，所有的扩展面源黑体的发射率都是，腔式黑体的发射率＞。扩展面源黑体的通过其符合LNE（与NIST同等的法国标准）特定的一种特定涂料来实现高发射率。HGH通过对黑体进行辐射校准来实现黑体在1到14um的整个波长范围内其等效发射率达到1。通过一个简单的测试来了解辐射校准的重要性：100℃的条件下，分别在不做辐射校准和做辐射校准的情况下测量黑体（发射率）的温度（通过红外温度计）。不做辐射校准的情况下其表面温度为98℃，而做过辐射校准后其表面温度为100℃。考虑到这种情况，有些人可能认为反射率不如等效反射率那么重要。然而，辐射校准是在实验环境中计算得出的，实验环境温度大概在22-23℃左右，并且是在光谱中的特定波段，其校正结果只在该实验温度和波段下有效。因此这种情况下需要严格控制工作环境的温度。 腔体式黑体炉直销价常见的黑体炉按照构造可以分为靶面式和腔体式两种。
选用测温仪，要注意辐射路径的吸收。因为可以测的范围很广，所以可以针对不同的吸收情况，选择合适的波长。在高温区，测量金属材料的比较好波长是近红外，可选用0.8～1.0um。其他温区可选用1.6μm、2.2μm、3.9μm。在低温测量应用中，通常用Ge或Si材料作为窗口，不透可见光，人眼不能通过窗口观察目标。如操作员需要通过窗口目标，应采用既透红外辐射又透过可见光的光学材料，如应采用既透红外辐射又透过可见光的光学材料，如ZnSe或BaF2等作为窗口材料。红外测温仪必须经过标定才能使它正确地显示出被测目标的温度。一般的红外测温的校准周期是一年，建议选用腔形，发射率达到0.99的黑体炉，才能准确的校准红外测温仪
红外热像仪用于研发，工业检测与设备维护的应用范围愈来愈***，红外热像仪的需求也在逐年增加之中，在科研，医疗，电子建筑等各行各业中发挥着举足轻重的作用。红外热像仪有许多参数，依据现行的热像仪校准规范（JJF1187-2008）的要求，需要对外观、显示、示值误差、测温一致性进行校准。热成像仪示值误差和测温一致性校准可以用腔式黑体炉完成。当黑体辐射源的尺寸不能完全覆盖热像仪视场时，需要调整热像仪或黑体辐射源位置，使黑体辐射源中心分别成像于标记点，使辐射源中心分别成像于热像仪显示器的各个区域，需要调整并测量9次（JJF1187-2008热像仪校准规范.在选择黑体炉时通常是选择发射率较高的腔式黑体，也要注意黑体腔口直径，温度均匀性和辐射温度不确定度。
校准方法：辐射校准：通过一个非接触式的高精度标准传递源对辐射腔体的温度进行测量，使用的发射率为1。黑体炉的温度刻度被调整到高温计所测量的温度值。在规定的光谱范围内，黑体炉的发射率为1（有例外的情况：传递标准高温计的发射率设置成小于1，这个设置也是黑体校准源的有效发射率，因此小于1）接触式温度计校准：校准源通过一个内置的高精度热电偶测量并显示温度，在辐射腔体上开一个孔，通过一个经过校准的探针来进行测量。温度精度：黑体炉是一种理想化的辐射体，它能吸收所有波长的辐射能量，没有能量的反射和透过。上海黑体炉使用行业
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